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J-GLOBAL ID:200903075508884805
蛍光検出装置およびその検出方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
松田 省躬
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2001562176
Publication number (International publication number):2003524180
Application date: Feb. 15, 2001
Publication date: Aug. 12, 2003
Summary:
【要約】【解決手段】分子間の相互作用を分析するための測定箇所が、画像形成型の方法を利用することにより少なくとも二次元単位で計測および選定され、画像形成型顕微鏡ユニットも機器構成要素も共通の制御ユニットで操作され、そして少なくとも機器構成要素の分析結果が制御ユニット及びコンピュータを通じて画像表示される、少なくとも一つの画像形成型顕微鏡ユニットおよび少なくとも一つの少量単位での分子間相互作用分析用の機器構成要素を有する蛍光検出装置
Claim (excerpt):
少なくとも一つの画像形成型顕微鏡ユニットおよび少なくとも一つの少量単位での分子間相互作用分析用の機器構成要素からなり、 ・ 分子間の相互作用を分析するための測定箇所が、画像形成型の方法を利用することにより、少なくとも二次元単位で計測および選定されること ・ 画像形成型顕微鏡ユニットおよび機器構成要素が、共通の制御ユニットで操作されること、 ・ 少なくとも機器構成要素の分析結果が、制御ユニットおよびコンピュータを通じて画像表示されることを特徴とする蛍光検出装置
F-Term (16):
2G043AA01
, 2G043BA16
, 2G043CA03
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043FA06
, 2G043GA04
, 2G043GB01
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043JA03
, 2G043LA03
, 2G043NA01
, 2G043NA06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (14)
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解析方法および解析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-140135
Applicant:株式会社分子バイオホトニクス研究所
-
表面分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平2-414479
Applicant:株式会社島津製作所
-
走査型プローブ顕微鏡の測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-105807
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
走査型細胞測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-011436
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
走査型顕微鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-059604
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
焦点測定のためのアタッチメントモジュール
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-057021
Applicant:カール・ツアイス・スティフツング
-
特開昭55-067718
-
顕微鏡用蛍光相関分光モジュール
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平10-524154
Applicant:ドイチェス・クレープスフォルシュングスツェントルム・シュティフトゥング・デス・エフェントリッヒェン・レヒツ
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自動焦点合わせ装置を有し高スループット選考に好適な顕微鏡
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2001-566072
Applicant:テイボテク・ビーブイビーエイ
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複数の分子認識領域を備えたバイオチップならびにこのようなバイオチップの読取デバイス
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-574928
Applicant:コミツサリアタレネルジーアトミーク, ベーイーオー・メリュー
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試料検査装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-612731
Applicant:カールツァイスイエナゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
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軸方向高解像度を有する走査型顕微鏡方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-589987
Applicant:エボテックバイオシステムズアーゲー
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特開平4-107418
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蛍光観察装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-049421
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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Article cited by the Patent:
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