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J-GLOBAL ID：200903075842131346

干渉測定法による試料測定

Inventor：
フェルヒャー、アドルフ フリードリヒ

About フェルヒャー、アドルフ フリードリヒ

, 
ライトゲブ、ライネル

About ライトゲブ、ライネル


Applicant, Patent owner：
カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト

About カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト


Agent (4)： 恩田 博宣 ,  恩田 誠 ,  本田 淳 ,  池上 美穂
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2008543729
Publication number (International publication number)：2009518088
Application date： Dec. 06, 2006
Publication date： May. 07, 2009
Summary：
本発明は、試料特に眼の干渉測定のための装置に関し、その装置は試料に入射する測定ビームが通過する第1の測定ビーム経路と、干渉のために測定ビームに適用される参照ビームが通過する第1の参照ビーム経路とを含む干渉計装置を備える。干渉計装置は第2の測定ビーム経路および/または第2の参照ビーム経路を備え、これら経路によって、それらの光波長は第1のビーム経路の1つとは異なる。この波長差は、試料の深さ方向に離間して配置される2つの測定領域の距離に従って選択される。
Claim (excerpt)：
試料(P)特に眼(A)の干渉測定装置であって、試料(P)に入射する測定ビームが通過する測定ビーム経路と、測定ビーム上に重ね合わされ、該測定ビームと干渉させられる参照ビームが通過する第1の参照ビーム経路(R)とを含む短コヒーレンス干渉計装置(I)を備え、該干渉計装置(I)が、光経路長が該第1の参照ビーム経路(R1)の光経路長とは異なる少なくとも1つの第2の参照ビーム経路(R2)であって、該経路長差が、該試料(P)の深さ方向に離間した2つの試料領域(5、6、7)の距離に従って選択される、少なくとも1つの第2の参照ビーム経路(R2)と、該検出され、かつ重ね合わされたビームから、該参照ビーム経路(R1、R2)の該経路長差を考慮して、フーリエ・スペクトル分析によって該試料領域(5、6、7)間の該距離を決定する制御デバイス(200)とを備えることを特徴とする干渉測定装置。
IPC (2)：
A61B 3/10 ,  G01B 9/02
FI (2)：
A61B3/10 Z ,  G01B9/02
F-Term (14)：
2F064AA09 ,  2F064EE01 ,  2F064FF03 ,  2F064GG02 ,  2F064GG12 ,  2F064GG13 ,  2F064GG17 ,  2F064GG22 ,  2F064GG23 ,  2F064GG49 ,  2F064HH02 ,  2F064HH07 ,  2F064HH10 ,  2F064JJ15
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (7)
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