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J-GLOBAL ID:200903076744408344
分光装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999375631
Publication number (International publication number):2001188023
Application date: Dec. 28, 1999
Publication date: Jul. 10, 2001
Summary:
【要約】【課題】 小型化が可能な分光装置を実現すること。【解決手段】 測定光を波長分散素子で分散させて受光素子に入射させることにより波長別に分離された検出信号を得る分光装置であって、波長分散素子と対向する位置にミラーを配置し、測定光が波長分散素子を2回通るようにしたことを特徴とする。
Claim (excerpt):
測定光を波長分散素子で分散させて受光素子に入射させることにより波長別に分離された検出信号を得る分光装置であって、波長分散素子と対向する位置にミラーを配置し、測定光が波長分散素子を2回通るようにしたことを特徴とする分光装置。
IPC (4):
G01J 3/18
, H04J 14/00
, H04J 14/02
, H04B 10/08
FI (3):
G01J 3/18
, H04B 9/00 E
, H04B 9/00 K
F-Term (16):
2G020AA03
, 2G020AA04
, 2G020BA20
, 2G020CB42
, 2G020CB43
, 2G020CC09
, 2G020CC63
, 2G020CD06
, 2G020CD24
, 2G020CD38
, 2G020CD41
, 5K002BA02
, 5K002BA05
, 5K002BA21
, 5K002DA02
, 5K002EA05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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モノクロメータ及び分光方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-322361
Applicant:ヒューレット・パッカード・カンパニー
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複単色計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-286630
Applicant:アンリツ株式会社
-
同調レーザ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-109186
Applicant:アメリカンテレフォンアンドテレグラフカムパニー
-
多重光スペクトルの同時分析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-225071
Applicant:ワーベテックワンデルゴルターマンエーニンゲンゲーエムベーハーウントコー.
-
分光器および分光方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-371828
Applicant:株式会社アドバンテスト
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