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J-GLOBAL ID：200903078062456242

トータルエアロゾル分析装置

Inventor：
久米 博

About 久米 博


Applicant, Patent owner：
独立行政法人国立環境研究所

About 独立行政法人国立環境研究所


Agent (1)： 山口 隆生
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002310958
Publication number (International publication number)：2004144647
Application date： Oct. 25, 2002
Publication date： May. 20, 2004
Summary：
【課題】放射性物質の代わりに強度と照射エネルギーが制御可能な電子線源を用いたトータルエアロゾル分析装置を提供する。【解決手段】大気中のエアロゾルは巻取式エアロゾル捕集フィルタ1とエアロゾル吸引管2により捕集されてエアロゾル試料10を形成する。試料10は電子線源3の直下に移動し電子線に曝される。入射電子線の強度I0 と出射電子線の強度Iを電子線検出器6で測定して、β線吸収方式で試料10の重量xを求める。重量分析が終わった試料10はX線源7によって発生した励起X線がエアロゾル試料10に照射され、そのとき発生した特性X線をX線検出器9によって検出し、X線元素分析法を利用してエアロゾル試料10の成分分析を行う。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
巻取式エアロゾル捕集フィルタの上流から下流に沿ってエアロゾル吸引管、電子線源、X線源が順次に配置され、該電子線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタの反対側に電子線検出器を対向配置して質量測定装置を構成し、該X線源には該巻取式エアロゾル捕集フィルタと同じ側にX線検出器を配置して成分分析装置を構成することを特徴とするトータルエアロゾル分析装置。
IPC (5)：
G01N23/06 ,  G01N1/02 ,  G01N15/00 ,  G01N15/06 ,  G01N23/223
FI (5)：
G01N23/06 ,  G01N1/02 G ,  G01N15/00 C ,  G01N15/06 D ,  G01N23/223
F-Term (26)：
2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001BA04 ,  2G001BA11 ,  2G001BA30 ,  2G001CA01 ,  2G001CA10 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001KA01 ,  2G001MA01 ,  2G001MA04 ,  2G001NA16 ,  2G001RA02 ,  2G052AA01 ,  2G052AD04 ,  2G052AD24 ,  2G052AD52 ,  2G052BA05 ,  2G052BA14 ,  2G052BA22 ,  2G052CA41 ,  2G052EA03 ,  2G052GA18 ,  2G052JA01 ,  2G052JA04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
  • 特開平2-138900
  • 特開昭61-241640
  • 特開昭58-096242
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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