電子顕微鏡のための超高傾斜試験片低温移送ホルダ

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：社本一夫 (外5名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998539698
Publication number (International publication number)：2000513135
Application date： Mar. 10, 1998
Publication date： Oct. 03, 2000
Summary：

【要約】低温の液体を溢れさせることなく、試験片の適正な保護及び冷却を維持した状態で、360°の全傾斜角度(水平から右まわり及び左まわりに180°)にわたって試験片を回転させることのできる超高傾斜低温移送ホルダが提供される。低温移送ホルダは試験片チップを備えたホルダ本体と、試験片チップのための冷却源とを有する。試験片チップは交差するグリッドバー間に複数のグリッド開口を有する熱導電性材料試験片グリッドを含む。グリッドはホルダから前方の視界位置へ延びることができ、または、低温シールド内の保護位置へ引き戻ることができる。

Claim (excerpt)：

電子顕微鏡のための試験片低温移送ホルダであって、試験片チップを有するホルダ本体であって、試験片チップが熱伝導性材料の試験片グリッドを含み、試験片グリッドがグリッド開口を形成するように交差する複数のグリッドバーを有し、グリッド開口の各々が、ホルダ本体の長手軸線に実質上垂直で当該開口の幅より大きな長さを有し、試験片チップが水平から両方向に少なくとも約90°の角度にわたって回転できるようになったホルダ本体;及び上記試験片チップのための冷却源;を有することを特徴とする試験片低温移送ホルダ。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (9)

電子顕微鏡等の試料冷却ホルダ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-225889 Applicant：日本電子株式会社
特開平4-324240
電子顕微鏡等の試料装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-044370 Applicant：日本電子株式会社

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