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J-GLOBAL ID:200903078678555465
半導体レーザダイオード
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000353178
Publication number (International publication number):2002158403
Application date: Nov. 20, 2000
Publication date: May. 31, 2002
Summary:
【要約】【課題】 光出力の高い半導体レーザダイオードを提供する。【解決手段】 半導体レーザダイオード(LD)1は、n型GaAs基板2上に、n型クラッド層3、光ガイド層4、活性層5、光ガイド層6、p型クラッド層7、及びコンタクト層8が順次形成され構成されている。活性層5は、n型GaAs基板2と格子整合するInGaAsPより成り、また、p型クラッド層7は、n型GaAs基板2と格子整合するAlGaInPより成る。このp型クラッド層7の正孔濃度Cと正孔の活性化率Dとの間に0.75×D≦C≦Dの関係があり、且つ、1.5×1017cm-3≦C≦9.5×1017cm-3の関係があるため、半導体LD1は高い光出力を示す。
Claim (excerpt):
半導体基板上に、n型不純物原子が添加されたn型クラッド層と、活性層と、p型不純物原子が添加されたp型クラッド層とが少なくとも形成されてなる半導体レーザダイオードであって、前記p型クラッド層における正孔の濃度をC(cm-3)とし、前記p型クラッド層における前記p型不純物原子の濃度をD(cm-3)としたときに、0.75×D≦C≦D ...(1)1.5×1017cm-3≦C≦9.5×1017cm-3 ...(2)で表される式(1)と式(2)とを同時に満たすことを特徴とする半導体レーザダイオード。
F-Term (8):
5F073AA46
, 5F073BA09
, 5F073CA13
, 5F073CB02
, 5F073CB19
, 5F073DA05
, 5F073EA15
, 5F073EA24
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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半導体レ-ザ装置及び結晶成長方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-294169
Applicant:三洋電機株式会社
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半導体レーザ発光装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-176633
Applicant:松下電器産業株式会社
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半導体レーザ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-189241
Applicant:株式会社日立製作所
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