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J-GLOBAL ID：200903079271163097

質量分析装置及び質量分析方法

Inventor：
奥村 昭彦

About 奥村 昭彦

, 
和氣 泉

About 和氣 泉


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

About 株式会社日立ハイテクノロジーズ


Agent (2)： 小川 勝男 ,  田中 恭助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003045345
Publication number (International publication number)：2004259452
Application date： Feb. 24, 2003
Publication date： Sep. 16, 2004
Summary：
【課題】イオン捕捉効率、質量分解能、及び、CID効率を同時にほぼ最大にし得る、イオントラップと飛行時間型質量分析計を非同軸に結合した質量分析装置を提供する。【解決手段】イオントラップと飛行時間型質量分析計とを非同軸に結合した質量分析装置であり、イオン源1とイオントラップ9の間に配置される質量フィルター8と、イオントラップ内部のガス圧と質量フィルターの内部のガス圧を独立に制御する手段とを有し、イオントラップの内部のガス圧が質量フィルターの内部のガス圧よりも高く設定される。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
イオン源で生成したイオンを一定時間蓄積した後、射出するための3次元四重極イオントラップと、前記イオントラップから射出された前記イオンをその進行方向に略直交する方向に電場加速し、加速された前記イオンの飛行時間を測定する飛行時間型質量分析計とを有し、かつ、前記イオン源と前記イオントラップとの間に質量フィルターを設けて、前記イオントラップの内部のガス圧と前記質量フィルターの内部のガス圧とを独立に制御するよう構成したことを特徴とする質量分析装置。
IPC (4)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 ,  H01J49/24 ,  H01J49/42
FI (7)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 E ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 L ,  G01N27/62 Y ,  H01J49/24 ,  H01J49/42
F-Term (4)：
5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ09 ,  5C038JJ13
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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