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J-GLOBAL ID:200903079504735860

ホトセンサ装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 石井 光正
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998047183
Publication number (International publication number):1999251624
Application date: Feb. 27, 1998
Publication date: Sep. 17, 1999
Summary:
【要約】【課題】 照射される光線が過度に強いことによる誤検出をなくし、長寿命を図ることのできるホトセンサ装置を提供する。【解決手段】 ホトセンサ装置本体をテストモードに設定するテストモード設定手段と、テストモードに設定されたときに、受光素子が出力信号を出力するのに十分な所定の値のテスト電流値を設定するテスト電流値設定手段と、設定されたテスト電流値を当初の供給電流値として発光素子に供給し、その後、供給電流値を徐々に低下させたときに前記受光素子が出力信号を出力しなくなる最低出力電流値を検出する最低出力電流値検出手段と、検出された最低出力電流値に所定の電流値を加算して前記発光素子に供給する電流値を生成する電流値生成手段とからなる。
Claim (excerpt):
電流が供給されたときに発光する発光素子と、その発光素子から照射された光線を受光して出力信号を出力する受光素子とからなるホトセンサ装置において、前記ホトセンサ装置本体をテストモードに設定するテストモード設定手段と、テストモードに設定されたときに、前記受光素子が出力信号を出力するのに十分な所定の値のテスト電流値を設定するテスト電流値設定手段と、設定されたテスト電流値を当初の供給電流値として前記発光素子に供給し、その後、供給電流値を徐々に低下させたときに前記受光素子が出力信号を出力しなくなる最低出力電流値を検出する最低出力電流値検出手段と、検出された最低出力電流値に所定の電流値を加算して前記発光素子に供給する電流値を生成する電流値生成手段と、を有することを特徴とするホトセンサ装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
  • 特開昭62-239033
  • 半導体フォト・カプラ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-224806   Applicant:株式会社東芝
  • 半導体リレー
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-035946   Applicant:横河電機株式会社
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Cited by examiner (4)
  • 特開昭62-239033
  • 半導体フォト・カプラ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-224806   Applicant:株式会社東芝
  • 半導体リレー
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-035946   Applicant:横河電機株式会社
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