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J-GLOBAL ID：200903081934028584

雑音指数測定方法

Inventor：
相田 一夫

About 相田 一夫

, 
佐藤 良明

About 佐藤 良明


Applicant, Patent owner：
日本電信電話株式会社

About 日本電信電話株式会社


Agent (1)： 井出 直孝 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995048675
Publication number (International publication number)：1996248454
Application date： Mar. 08, 1995
Publication date： Sep. 27, 1996
Summary：
【要約】【目的】 多くの納入業者から供給される製造工程の異なった光増幅器の特性を簡便かつ高い精度で測定できるようにする。【構成】 被測定光増幅器の上準位の原子寿命またはキャリヤ寿命より十分に短い周期で強度変調された繰り返し光パルス信号を自然放出光を発生しない受動光素子の入力に与え、この光パルス信号の有る時間領域に同期したその受動光素子の出力光電力(Pout ) およびこの光パルス信号の無い時間領域に同期した受動光素子の出力光電力(Pleakage ) を分離して検出し、Pleakage /Pout により漏洩特性を演算する。
Claim (excerpt)：
被測定光増幅器の上準位の原子寿命またはキャリヤ寿命より十分に短い周期で強度変調された繰り返し光パルス信号を被測定光増幅器の入力に与え、この光パルス信号の有る時間領域に同期した被測定光増幅器の出力光電力(PAMP ) およびこの光パルス信号の無い時間領域に同期した被測定光増幅器の出力光電力(PASE ) を分離して検出し、プランク定数をh、光パルス信号の光周波数をν、被測定光増幅器の利得をG、前記光パルス信号の無い時間領域に同期した被測定光増幅器の出力光電力(PASE ) を測定するときの通過帯域幅をB0 とするとき、【数1】を演算することを特徴とする雑音指数測定方法において、前記被測定光増幅器に代えて自然放出光(ASE)を発生しない受動光素子を接続し、前記光パルス信号の有る時間領域に同期したその受動光素子の出力光電力(Pout ) およびこの光パルス信号の無い時間領域に同期した前記受動光素子の出力光電力(Pleakage ) を分離して検出し、【数2】により漏洩特性を演算することを特徴とする雑音指数測定方法。
IPC (4)：
G02F 1/35 501 ,  H01S 3/07 ,  H04B 10/28 ,  H04B 10/02
FI (3)：
G02F 1/35 501 ,  H01S 3/07 ,  H04B 9/00 W
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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