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J-GLOBAL ID：200903082577441490
質量分析用イオン化基板及び質量分析装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005013433
Publication number (International publication number)：2006201042
Application date： Jan. 21, 2005
Publication date： Aug. 03, 2006
Summary：
【課題】 レーザー脱離イオン化質量分析用試料基板において、レーザー光を照射されたときに、妨害ピークを発生させることなく、正確な測定ができ、試料作成にあたっては、試料を均一に塗布することができ、かつ測定後の洗浄が容易であるソフトLDI-MS測定のための試料基板およびそれを用いる測定装置の提供。【解決手段】 レーザー脱離イオン化質量分析に用いるレーザー光を吸収するイオン化媒体として、焦電性素子、又は前記焦電性素子が強誘電体素子、又は前記焦電性素子が結晶性の素子、又は前記強誘電体素子が結晶性の素子、又は前記結晶性素子の表面が平滑な特定の単結晶を用いる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
レーザー光を吸収する結晶性素子から構成されるイオン化媒体であることを特徴とするレーザー脱離イオン化質量分析用試料基板。
IPC (4)：
G01N 27/64
, G01N 27/62
, H01J 49/10
, G01N 1/28
G01N27/64 B
, G01N27/62 V
, H01J49/10
, G01N1/28 W
2G052AA28
, 2G052AB16
, 2G052DA05
, 2G052DA06
, 2G052GA11
, 2G052GA24
, 5C038GG07
, 5C038GH05
, 5C038GH06
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent：
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