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J-GLOBAL ID：200903084055805118

巻線の検査装置及び検査方法

Inventor：
久保崎 満

About 久保崎 満

, 
浅野 啓行

About 浅野 啓行

, 
梅津 潔

About 梅津 潔


Applicant, Patent owner：
三菱電機株式会社

About 三菱電機株式会社

, 
株式会社 電子制御国際

About 株式会社 電子制御国際


Agent (4)： 大岩 増雄 ,  児玉 俊英 ,  竹中 岑生 ,  村上 啓吾
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007286406
Publication number (International publication number)：2009115505
Application date： Nov. 02, 2007
Publication date： May. 28, 2009
Summary：
【課題】被試験巻線の良否を高精度かつ容易に検査できる巻線の検査装置を提供する。【解決手段】被試験巻線10の端子間にインパルス電圧を印加するインパルス電圧発生手段20と、インパルス電圧を印加することにより被試験巻線10の端子間に発生する振動電圧の波形を検出する端子間電圧検出手段30と、被試験巻線10の放電により発生する電磁波を検出する電磁波検出手段40と、検出された振動電圧の波形信号をA/D変換し、振動電圧波形として記憶する第1のA/Dコンバータ・波形メモリ手段51と、検出された電磁波の信号をA/D変換し、電磁波波形として記憶する第2のA/Dコンバータ・波形メモリ手段52と、記憶された振動電圧波形及び電磁波波形を表示する表示手段64を備える。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
検査対象の巻線である被試験巻線の端子間にインパルス電圧を印加するインパルス電圧発生手段と、 前記インパルス電圧発生手段からインパルス電圧を印加することにより前記被試験巻線の端子間に発生する振動電圧の波形を検出する端子間電圧検出手段と、 前記被試験巻線の放電により発生する電磁波を検出する電磁波検出手段と、 前記端子間電圧検出手段が検出する振動電圧の波形信号をA/D変換し、振動電圧波形として記憶する第1のA/Dコンバータ・波形メモリ手段と、 前記電磁波検出手段が検出する電磁波の信号をA/D変換し、電磁波波形として記憶する第2のA/Dコンバータ・波形メモリ手段と、 前記第1のA/Dコンバータ・波形メモリ手段が記憶した前記振動電圧波形及び前記第2のA/Dコンバータ・波形メモリ手段が記憶した前記電磁波波形を表示する表示手段を備えたことを特徴とする巻線の検査装置。
IPC (4)：
G01R 31/06 ,  G01R 31/12 ,  H01F 41/00 ,  H01F 27/00
FI (4)：
G01R31/06 ,  G01R31/12 A ,  H01F41/00 F ,  H01F27/00 H
F-Term (16)：
2G014AA03 ,  2G014AA15 ,  2G014AB04 ,  2G014AB06 ,  2G014AB07 ,  2G014AB49 ,  2G014AC15 ,  2G014AC19 ,  2G015AA07 ,  2G015AA08 ,  2G015AA12 ,  2G015AA14 ,  2G015BA01 ,  2G015BA06 ,  2G015CA01 ,  2G015CA08
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (12)
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