顕微鏡システム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：西澤利夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998097924
Publication number (International publication number)：2001100102
Application date： Apr. 09, 1998
Publication date： Apr. 13, 2001
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】第一電子励起状態の分子を第二電子励起状態へ励起させるイレース光を、簡単でコンパクトな光学系を用いて、優れたビームプロファイルで集光させることができ、安定性および操作性が高く、優れた超解像性を有する、新しい顕微鏡システムを提供する。【解決手段】分子を基底状態から第一電子励起状態へ励起させる波長λ1光の光源と、第一電子励起状態の分子を第二電子励起状態またはより高い電子励起状態へ励起させる波長λ2光の光源と、波長λ1光と波長λ2光とを調整された試料上に集光させる集光光学系と、調整された試料上における波長λ1光の照射領域および波長λ2光の照射領域を一部分重ね合わせる重ね手段とを備え、重ね手段を介して波長λ1光と波長λ2光とを照射することにより、分子が第一電子励起状態から基底状態へ脱励起する際の発光の領域を抑制する。

Claim (excerpt)：

調整された試料と顕微鏡本体とを備えた顕微鏡システムであって、調整された試料は、少なくとも基底状態を含め3つの電子状態を有し、その第一電子励起状態から第二電子励起状態への励起波長帯域が、第一電子励起状態から基底状態の振動準位に蛍光過程により脱励起する際の蛍光波長帯域と重複している分子により染色されたものであり、顕微鏡本体は、分子を基底状態から第一電子励起状態へ励起させる波長λ1光の光源と、第一電子励起状態の分子を第二電子励起状態またはより高い電子励起状態へ励起させる波長λ2光の光源と、波長λ1光と波長λ2光とを調整された試料上に集光させる集光光学系と、調整された試料上における波長λ1光の照射領域および波長λ2光の照射領域を一部分重ね合わせる重ね手段と、励起された分子が基底状態へ脱励起する際の発光を検出する発光検出器とを備え、重ね手段を介して波長λ1光と波長λ2光とを照射することにより、分子が第一電子励起状態から基底状態へ脱励起する際の発光の領域を抑制するものであることを特徴とする光学顕微鏡システム。

IPC (2)：

G02B 21/00 , G02B 21/06

FI (2)：

G02B 21/00 , G02B 21/06

F-Term (9)：

2H052AA00 , 2H052AA07 , 2H052AA09 , 2H052AB24 , 2H052AB26 , 2H052AC14 , 2H052AC34 , 2H052AD34 , 2H052AF07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

多波長光光学顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-329165 Applicant：新技術事業団, 池滝慶記
多波長光光学顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-055714 Applicant：新技術事業団, 池滝慶記
光学顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-302232 Applicant：科学技術振興事業団, オリンパス光学工業株式会社

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