多点極微量物質自動分析装置及び分析方法並びに極微量物質自動分析装置及び分析方法

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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：京本直樹 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999081067
Publication number (International publication number)：2000081422
Application date： Mar. 25, 1999
Publication date： Mar. 21, 2000
Summary：

【要約】【課題】極微量成分を短時間に、かつ精度よく自動分析する多点極微量物質自動分析装置及び分析方法並びに極微量物質自動分析装置及び分析方法を提供する。【解決手段】極微量物質を含有するサンプルを捕集するサンプリング部100、サンプリング部により捕集されたサンプル中の極微量物質を濃縮する機能を有する濃縮部200、濃縮された極微量物質を分析測定する分析部300、及び各部を自動的かつ総合的に制御する制御部400からなる極微量物質自動分析装置において、分析部300中の一系統の分析器61に対し、分析器61に濃縮試薬を提供する濃縮部200の濃縮装置26,27を少なくとも2系統備え、各系統の濃縮装置26,27には、それぞれ独立に多地点P1〜P10より捕集された一系列のサンプル群により、並列複数の多点切換バルブ21〜24により任意のサンプルが供給されるように構成する。

Claim (excerpt)：

極微量物質を含有するサンプルを捕集するサンプリング部、サンプリング部により捕集されたサンプル中の極微量物質を濃縮する機能を有する濃縮部、濃縮された極微量物質を分析測定する分析部、及び各部を自動的かつ総合的に制御する制御部からなる極微量物質自動分析装置において、分析部中の一系統の分析器に対し、分析器に濃縮試薬を提供する濃縮部の濃縮装置を少なくとも2系統備え、各系統の濃縮装置には、それぞれ独立に多地点より捕集された一系列のサンプル群により、並列複数の多点切換バルブにより任意のサンプルが供給されるように構成されていることを特徴とする多点極微量物質自動分析装置。

IPC (4)：

G01N 30/04 , G01N 1/00 101 , G01N 1/00 , G01N 30/08

FI (4)：

G01N 30/04 E , G01N 1/00 101 S , G01N 1/00 101 X , G01N 30/08 L

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

気体分析装置およびその分析方法および気体採取装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-024871 Applicant：日本電気株式会社
気体分析装置および気体分析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-241943 Applicant：日本電気株式会社
ガス分析装置用切換装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-158978 Applicant：横河アナリティカルシステムズ株式会社

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