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J-GLOBAL ID：200903091155538288
液晶配向膜評価方法及び液晶配向膜評価装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
若林 忠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996314747
Publication number (International publication number)：1998153523
Application date： Nov. 26, 1996
Publication date： Jun. 09, 1998
Summary：
【要約】【課題】 液晶配向膜の均一性の評価及び分子配向状態の評価を同時に行うことができない。【解決手段】 液晶配向膜が形成されている試料4が設置され、試料4の測定点を通る軸を中心に面内回転するステージ7と、試料4に照射する光を発する光源1と、光源1から発せられた光を一定の偏向状態を有する光に変換する偏光子2と、試料4からの反射光を検出する検光子5と、検光子5において検出された光に基づいて試料4の偏光状態を検出する検出器6とを設け、ステージ7を回転させることにより、試料4に対して複数の方位から光源1による光を照射し、検出器6における検出結果と、予め算出された、均一性を有する液晶配向膜の表面における反射光の偏光状態との差に基づいて液晶配向膜の均一性及び分子配向状態を評価する。
Claim (excerpt)：
光学的異方性を有する液晶配向膜の均一性及び分子配向状態を評価する液晶配向膜評価方法であって、前記液晶配向膜の表面に一定の偏光状態を有する光を照射し、前記液晶配向膜の表面における反射光の偏光状態を一定の入射角で測定する動作を複数の方位から行い、予め算出された、均一性を有する液晶配向膜の表面における反射光の偏光状態と、前記測定値との差に基づいて前記液晶配向膜の均一性及び分子配向状態を評価することを特徴とする液晶配向膜評価方法。
IPC (4)：
G01M 11/00
, G02F 1/1337
, G09F 9/00 352
, G09F 9/35
G01M 11/00 T
, G02F 1/1337
, G09F 9/00 352
, G09F 9/35
Cited by examiner (5)
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