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J-GLOBAL ID:200903093211755435

走査型蛍光検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996020124
Publication number (International publication number):1997210907
Application date: Feb. 06, 1996
Publication date: Aug. 15, 1997
Summary:
【要約】【課題】 光検出器のパルスペア分解能および量子ノイズの双方の問題を排除して、試料に含まれる蛍光物質から発生する蛍光の分布を短時間に精度よく測定する。【解決手段】 走査機構84によって走査される試料86に励起光が照射されて発生した蛍光は、光検出器10に入射し、その光量に応じた光電子数分布に従った個数の光電子が放出されて増倍された電流信号が出力される。その電流信号は積分器20により一定時間積分されて電圧信号に変換され、その電圧信号はAD変換器50によりデジタル値に変換され、ヒストメモリ60により照射位置ごとに電圧信号の波高分布が生成される。照射位置ごとの波高分布と単一光電子事象波高分布とk-光電子事象波高分布とに基づいて、照射位置それぞれについて蛍光を光検出器10が受光した場合の光電子数分布が推定されて蛍光の光量が求められ、そして、試料86における蛍光の光量分布が求められる。
Claim (excerpt):
励起光を出力する励起光源と、前記励起光が照射される試料および前記励起光の少なくとも何れか一方を、前記励起光の光軸に略垂直な方向に走査して、前記試料上の照射位置それぞれに前記励起光を一定時間以上照射させるとともに、前記照射位置に応じた照射位置信号を出力する走査手段と、前記照射位置それぞれから発生した蛍光を受光し、前記蛍光の光量に応じた光電子数分布に従った個数の光電子を放出し、前記光電子を増倍して電流信号を出力する光検出器と、前記照射位置それぞれにおいて、前記電流信号を前記一定時間積分して電圧信号に変換する積分手段と、前記照射位置それぞれにおいて、前記一定時間経過時の前記電圧信号に応じたデジタル値を出力するAD変換手段と、前記照射位置信号および前記デジタル値を入力し、前記照射位置および前記デジタル値に対応する番地に所定値を累積加算して、前記照射位置ごとに前記電圧信号の波高分布を生成する波高分布生成手段と、前記光検出器で放出される光電子が1個の場合に前記波高分布生成手段で生成される波高分布を単一光電子事象波高分布として獲得する単一光電子事象波高分布生成手段と、前記光検出器で放出される光電子の個数kが2以上かつ所定数以下のそれぞれの場合におけるk-光電子事象波高分布を、前記単一光電子事象波高分布に基づいて漸化的にコンボリューション計算によって算出するk-光電子事象波高分布生成手段と、前記照射位置それぞれにおいて、前記蛍光が前記光検出器に入射して前記波高分布生成手段で生成された波高分布と前記単一光電子事象波高分布と前記光電子の個数kそれぞれの場合における前記k-光電子事象波高分布とに基づいて、前記蛍光が前記光検出器に入射した場合の前記光電子数分布を推定することによって前記蛍光の光量を求める光電子数分布推定手段と、前記照射位置それぞれについて前記光電子数分布推定手段で求められた前記蛍光の光量に基づいて、前記試料における前記蛍光の光量分布を生成する蛍光光量分布生成手段と、を備えることを特徴とする走査型蛍光検出装置。
IPC (2):
G01N 21/64 ,  G02B 21/00
FI (2):
G01N 21/64 E ,  G02B 21/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
  • 微弱光計測装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-170908   Applicant:浜松ホトニクス株式会社
  • 特公平5-006123
  • 微弱発光測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-231558   Applicant:浜松ホトニクス株式会社
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