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J-GLOBAL ID:200903094540164800

放射線測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 吉田 研二 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000249445
Publication number (International publication number):2002062359
Application date: Aug. 21, 2000
Publication date: Feb. 28, 2002
Summary:
【要約】【課題】 γ線を検知する放射線測定装置において、カットエネルギーを低減し、低エネルギー領域での測定を可能とする。【解決手段】 放射線検出器20と複数の放射線検出器22それぞれとからの出力パルスをOR回路24でまとめ、カウントする。放射線検出器22は、シンチレータでの光への変換を介さず、放射線が放射線検出用半導体素子42内で発生する電荷を検出する。一方、放射線検出器20では、シンチレータでの光への変換が介在する。この放射線検知の方法の相違から、放射線検出器22には放射線検出器20より低いカットレベルを設定でき、低エネルギー側へ測定レンジが拡張された測定装置が得られる。
Claim (excerpt):
放射線により発光するシンチレータと前記発光を検知する発光検出用半導体素子とを含み、第1エネルギー以上の放射線を検出する第1感度特性を有する第1放射線検出器と、放射線による電離を検知する放射線検出用半導体素子を含み、前記第1エネルギーより低い第2エネルギー以上の放射線を検出する複数の第2放射線検出器と、前記第1放射線検出器からの放射線検出信号と複数の前記第2放射線検出器それぞれからの放射線検出信号とに基づいて放射線を計数する計数部と、を有し、前記複数の第2放射線検出器はそれらを合成した感度特性として、前記第2エネルギーと前記第1エネルギーとの間で前記第1感度特性に相応した第2感度特性を有すること、を特徴とする放射線測定装置。
IPC (2):
G01T 1/20 ,  G01T 1/24
FI (3):
G01T 1/20 J ,  G01T 1/20 E ,  G01T 1/24
F-Term (9):
2G088FF04 ,  2G088GG19 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ01 ,  2G088KK06 ,  2G088KK11 ,  2G088KK29 ,  2G088LL05 ,  2G088LL15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (14)
  • 特開昭64-015690
  • 位置検出型X線検出方法及び検出器
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-311716   Applicant:理化学研究所, イオン加速器株式会社
  • 特開昭60-049281
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