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J-GLOBAL ID：200903097452758902

LDIプレート、レーザー脱離イオン化質量分析装置、レーザー脱離イオン化質量分析方法及びLDIプレート製造方法

Inventor： 米澤徹 ,  川崎英也 ,  荒川隆一 ,  渡辺健宏
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 東京大学 ,  学校法人 関西大学
Agent (1)： 立石 琢也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007036658
Publication number (International publication number)：2008204654
Application date： Feb. 16, 2007
Publication date： Sep. 04, 2008
Summary：

【課題】 汎用性の高いLDIプレート等を提供する。【解決手段】 本発明の第1の側面は、レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、容易に製造でき、汎用性の高いLDIプレートが得られる。本発明の第2の側面は、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助する白金粒子を有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、広範囲の波長のレーザー光を吸収できる白金粒子が基板上に担持されているため、様々な種類の試料をレーザー脱離イオン化質量分析法の対象とすることができる。【選択図】 図2

Claim (excerpt)：

レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレート。

IPC (3)：

H01J 49/16 ,  H01J 49/04 ,  G01N 27/62

FI (3)：

H01J49/16 ,  H01J49/04 ,  G01N27/62 Z

F-Term (13)：

2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041EA01 ,  2G041FA11 ,  2G041FA12 ,  2G041GA16 ,  2G041JA07 ,  2G041JA08 ,  5C038EE03 ,  5C038EF15 ,  5C038EF16 ,  5C038GG07 ,  5C038GH17

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開昭62-43582
  
• 質量分析用イオン化基板及び質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-013433   Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所

Cited by examiner (3)

• 特開昭62-284256
  
• 質量分析用イオン化基板及び質量分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-116525   Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所
• 質量分析用基板、その製造方法および質量分析測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-290482   Applicant：キヤノン株式会社