微粒子計測装置

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：渡辺正康
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997103770
Publication number (International publication number)：1998300671
Application date： Apr. 22, 1997
Publication date： Nov. 13, 1998
Summary：

【要約】【課題】装置の小型化,低価格化をはかった微粒子計測装置を提供する。【解決手段】セル内に微粒子を導入する手段と、セル内の微粒子にレーザ光を照射する手段と、レーザ光の照射により発光する微粒子の原子発光を伝送する伝送手段と、伝送手段により伝送された光を分光する分光手段と、分光された光を受光する光検出器アレイと、を有しレーザ光を微粒子の発光波長外の波長とするとともに、前記光伝送手段の前段にレーザ光の波長の侵入を阻止するフィルターを設けている。

Claim (excerpt)：

セル内に微粒子を導入する手段と、セル内の微粒子にレーザ光を照射する手段と、レーザ光の照射により発光する微粒子の光を伝送する伝送手段と、伝送手段により伝送された光を分光する分光手段と、分光された光を受光する光検出器アレイと、からなり、前記レーザ光を微粒子の発光波長外の波長とするとともに、前記光伝送手段の前段にレーザ光の波長の侵入を阻止するフィルターを設けたことを特徴とする微粒子計測装置。

IPC (4)：

G01N 21/63 , G01N 15/10 , G01N 21/68 , G01N 21/71

FI (4)：

G01N 21/63 Z , G01N 15/10 A , G01N 21/68 , G01N 21/71

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (9)

特開平2-242149
特開平4-366749
計装用ガス中の懸濁物質分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-286775 Applicant：三菱重工業株式会社

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