Pat
J-GLOBAL ID：200903098532664123
質量分析を用いた物質の同定方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
平木 祐輔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005141124
Publication number (International publication number)：2006317326
Application date： May. 13, 2005
Publication date： Nov. 24, 2006
Summary：
【課題】物質の構造に関する情報の取得効率を向上し、測定及び物質同定の時間を短縮し、同定精度を向上することのできる質量分析システムを提供する。【解決手段】イオン化された試料を質量分析する工程、質量分析で観測されたイオンの中から第1のイオンを選択して断片化する第1の断片化工程、第1の断片化工程によって生じた複数の断片イオンを質量分析する工程、質量分析の結果を用いて、第1のイオンを再構成できる断片イオンの組み合わせを求める工程、断片イオンの組み合わせに含まれる断片イオンを断片化する第2の断片化工程、第2の断片化工程で生じた断片イオンを質量分析する工程を有する。【選択図】図6
Claim (excerpt)：
イオン化された試料を質量分析する質量分析機と、
情報処理部とを含み、
前記質量分析機は質量スペクトルに現れた特定のm/zを有するイオンを選択的に断片化して、断片化されたイオンを質量分析する機能を有し、
前記情報処理部は、1つの親イオンと、当該親イオンから派生した複数の娘イオンの情報を受けて、前記親イオンを再構成できる娘イオンの組み合わせを求める断片イオン組み合わせ読み取り処理部を有し、前記断片イオン組み合わせ読み取り処理部によって求めた娘イオンの組み合わせに含まれる娘イオンを断片化して質量分析する指示を前記質量分析機に行う機能を有することを特徴とする質量分析システム。
IPC (2)：
FI (3)：
G01N27/62 V
, G01N27/62 X
, G01N30/72
2G041CA01
, 2G041DA14
, 2G041EA04
, 2G041EA12
, 2G041FA10
, 2G041FA12
, 2G041GA02
, 2G041GA06
, 2G041GA08
, 2G041GA10
, 2G041HA01
, 2G041KA01
, 2G041LA04
, 2G041LA06
, 2G041LA07
, 2G041LA12
Cited by applicant (2)
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質量分析スペクトルの解析システム
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2003-050485
Applicant：株式会社日立ハイテクノロジーズ
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MS/MS質量分析装置用データ処理装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平6-282814
Applicant：株式会社島津製作所
Cited by examiner (6)
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