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J-GLOBAL ID:200903099777721145
リソグラフィー用ギャップフィル材形成組成物
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001207811
Publication number (International publication number):2003057828
Application date: Jul. 09, 2001
Publication date: Feb. 28, 2003
Summary:
【要約】【課題】 ホールやトレンチなどの凹凸のある基板上の平坦化性に優れ、レジスト層とのインターミキシングが起こらず、レジストに比較して大きなドライエッチング速度を有するリソグラフィ用ギャップフィル材を提供する。【解決手段】 高さ/直径で示されるアスペクト比が1以上のホールを有する基板にレジストを被覆しリソグラフィープロセスを利用して基板上に画像を転写する方法による半導体装置の製造において使用され、レジストを被覆する前の該基板に被覆して基板表面を平坦にするために用いる、ポリマー溶液を含有するギャップフィル材形成組成物である。
Claim (excerpt):
高さ/直径で示されるアスペクト比が1以上のホールを有する基板にレジストを被覆しリソグラフィープロセスを利用して基板上に画像を転写する方法による半導体装置の製造において使用され、レジストを被覆する前の該基板に被覆して基板表面を平坦にするために用いる、ポリマー溶液を含有するギャップフィル材形成組成物。
F-Term (4):
2H025AA00
, 2H025AA18
, 2H025AB16
, 2H025DA40
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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特開昭61-070720
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半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-333983
Applicant:三菱電機株式会社
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半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-125248
Applicant:富士通株式会社
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段差基板用塗布溶液
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-296585
Applicant:東ソー株式会社
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シリル化平坦化レジスト及び平坦化方法並びに集積回路デバイスの製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-134936
Applicant:シャープ株式会社, シャープ・マイクロエレクトロニクス・テクノロジー・インコーポレイテッド
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特開昭62-056947
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特開昭61-180241
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