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J-GLOBAL ID：201003092559734738
キチン結晶化度測定装置
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
,
Agent (2)：
関 正治
, 柳瀬 睦肇
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009035741
Publication number (International publication number)：2010190746
Application date： Feb. 18, 2009
Publication date： Sep. 02, 2010
Summary：
【課題】キチンの結晶化度をリアルタイムで測定できるキチン結晶化度測定装置を提供する。特に、オンラインで高速測定して粉砕装置や搬送装置にフィードバックすることができるキチン結晶化度測定装置を提供する。【解決手段】キチン粉末試料2に近赤外光を照射する光源ランプ11と、試料から入射する近赤外光の光量を検出する赤外光センサ12と、事前に生成した検量線を記録する記憶装置16と、検出結果と検量線に基づいてキチンの結晶化度を算定する演算装置17,18とを備え、赤外光センサ12の検出結果に基づいて近赤外スペクトルを求め、近赤外スペクトルの2次微分を求めて変換スペクトルとし、変換スペクトルの所定の波長範囲における強度を検量線と比較してキチンの結晶化度を推定する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
所定の測定位置におけるキチン粉体試料に近赤外光を照射する光源ランプと、
該試料から入射する近赤外光の光量を検出する近赤外センサと、
事前に生成した近赤外光光量と試料の結晶化度を関連づける検量線を記録する記憶装置と、
前記近赤外センサの検出結果と前記検量線とに基づいてキチンの結晶化度を算定する演算装置とを備え、
前記近赤外センサの検出結果に基づいて近赤外スペクトルを求め、該近赤外スペクトルに変換処理を施して変換スペクトルとし、複数の波長領域において前記変換スペクトルの特性値を前記検量線と比較して前記キチンの結晶化度を推定する、
キチン結晶化度測定装置。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (16)：
2G059AA03
, 2G059AA05
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059DD01
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059GG00
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ01
, 2G059KK01
, 2G059KK10
, 2G059MM01
, 2G059MM03
, 2G059MM12
Cited by examiner (10)
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キチン分解物の製造方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2007-051722
Applicant：焼津水産化学工業株式会社, 独立行政法人国立高等専門学校機構
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結晶の定量方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2004-154241
Applicant：住友化学株式会社, 大塚誠
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高分子化合物の不良品分離方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平10-337787
Applicant：三井化学株式会社
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