Art

J-GLOBAL ID：201102210758995598   Reference number：11A1520419

鉄鋼材料中の転位像観察に対するSEM法の応用

Author (2)： SUGIYAMA MASAAKI (新日鉄 先端技研) ,  SHIBATA MASATERU (日本電子)
Material： 日本電子News
Volume： 43  Page： 7-12  Publication year： 2011 
JST Material Number： Y0013A  ISSN： 0386-6572  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *steel product ,  *dislocation(crystal) ,  scanning electron microscope ,  *lattice defect ,  image processing ,  *electron microscopy ,  contrast
Semi thesaurus term： steel material ,  SEM (microscope) ,  電子チャネリングコントラストイメージング

JST classification (1)： Lattice defects in metals  (BK12030F)

Reference (13)：

• [1] Wilkinson,A. J., Anstis,G. R., Czemuszka, J. T., Long, N. J. and Hirsh, P. B. "Electron channeling contrast imaging of interfacial defects in strained silicon-ger-manium layers on silicon", Phil. Mag. A, 68, 59-80 (1993).
• [2] Wilkinson, A.J. and Hirsh, P.B. "The effects of surface stress relaxation on electron channeling contrast images of dislocations", Phil. Mag. A, 72, 81-103 (1995).
• [3] Czemuszka, J.T., Long, N,J., Boyes, E.D. and Hirsh, P.B., "Imaging of dislocations using backscattered electrons in a scan-ning electron-microscope" , Phil. Mag. Lett, 62, 227-232 (1990).
• [4] Dingley, D. "Progressive steps in the development of electron backscatter diffrac-tion and orientation imaging microscopy" , J. of Microscopy, 213, 214-224 (2003).
• [5] Ahmed, J, Wilkinson, A.J. and Roberts, S.G, "Characterizing dislocation struc-tures in bulk fatigued copper single crys-tals using electron channeling contrast imaging (ECCI)" , Phil. Mag. Lett., 76, 237-245 (1997).

Terms in the title (5)： 鉄鋼材料 ,  転位 ,  観察 ,  SEM ,  応用