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J-GLOBAL ID:201103055321789679
表面仕上げ判定装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009183027
Publication number (International publication number):2011031370
Application date: Aug. 06, 2009
Publication date: Feb. 17, 2011
Summary:
【課題】金属表面の仕上げを評価する装置であって、製造現場における使用に適する装置を提供する。【解決手段】回転しながら研削または研磨が行われた加工対象に対して、該加工対象の加工表面の仕上がりを評価する表面仕上げ判定装置において、上記加工対象を回転させながら加工表面の画像をラインスキャンカメラにより撮影し、撮影した画像の加工痕の強調処理や、フーリエ変換などの画像処理した結果を用いて表面仕上げの良否判定を行うことを特徴とする表面仕上げ判定装置を提供する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
回転させながら研削または研磨を行った加工対象に対して、該加工対象の加工表面の仕上がりを評価する表面仕上げ判定装置において、
上記加工対象を回転させながら加工表面の画像をラインスキャンカメラにより撮影し、
撮影した画像を画像処理した結果を用いて表面仕上げの良否判定を行うことを特徴とする表面仕上げ判定装置。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (8):
3C034AA01
, 3C034BB93
, 3C034CA05
, 3C034CA22
, 3C034CB14
, 3C034DD20
, 3C043CC02
, 3C043DD06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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マイクロツール研削装置及び方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-368749
Applicant:独立行政法人理化学研究所, 新世代加工システム株式会社, 有限会社チューブシステムズ
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検査装置及び検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-280051
Applicant:レーザーテック株式会社
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半導体レーザー装置及びそれを用いたホログラム装置。
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-209256
Applicant:三洋電機株式会社, インフェイズテクノロジーズインコーポレイテッド
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