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J-GLOBAL ID：201203018312101391

はんだ接合部の熱疲労寿命診断方法

Inventor：
小松 功

About 小松 功

, 
浅井 竜彦

About 浅井 竜彦


Applicant, Patent owner：
富士電機株式会社

About 富士電機株式会社


Agent (1)： 松本 洋一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010156352
Publication number (International publication number)：2012018107
Application date： Jul. 09, 2010
Publication date： Jan. 26, 2012
Summary：
【課題】実機信頼性評価を必要としない、数値解析による簡便で高精度な熱疲労寿命診断方法を提供する。 【解決手段】はんだバルク試験片を作成し、この試験片で想定されるひずみ範囲の複数のひずみに対応する疲労寿命データを取得し、このデータからそれぞれのひずみに対応するき裂進展速度を求め、これらのき裂進展速度を用いてはんだ接合部のき裂長さに換算した熱疲労寿命曲線を作成し、この熱疲労寿命曲線を用いて数値解析で求めたはんだ接合部のひずみに相当する熱疲労寿命を推定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
電気回路のはんだ接合部の繰返し熱応力に起因する熱疲労を予測するためのはんだ接合部の熱疲労寿命診断方法であって、 はんだ接合部に対応するはんだバルク試験片を作成し、はんだ接合部の想定されるひずみの範囲の複数のひずみに対応する疲労寿命データを取得し、得られた複数の疲労寿命データからそれぞれのひずみに対応するき裂進展速度を算出するき裂進展速度取得工程と、 この工程で得られたそれぞれのひずみに対応するき裂進展速度からはんだ接合部のき裂長さに換算した熱疲労寿命曲線を作成する熱疲労寿命曲線作成工程と、 数値解析によってはんだ接合部のひずみを算出するはんだひずみ算出工程と、 この工程で算出されたはんだ接合部のひずみを、前記熱疲労寿命曲線作成工程で作成した熱疲労寿命曲線に当てはめて、はんだ接合部の熱疲労寿命を推定する熱疲労寿命推定工程と、 を有する ことを特徴とするはんだ接合部の熱疲労寿命診断方法。
IPC (2)：
G01N 3/32 ,  H05K 3/34
FI (2)：
G01N3/32 A ,  H05K3/34 512A
F-Term (14)：
2G061AB05 ,  2G061AC03 ,  2G061AC04 ,  2G061BA03 ,  2G061CA04 ,  2G061CB18 ,  2G061DA11 ,  2G061DA12 ,  2G061EB07 ,  2G061EC02 ,  5E319CC22 ,  5E319CD52 ,  5E319GG11 ,  5E319GG20
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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