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J-GLOBAL ID:201203023802328940

炭化珪素半導体装置の製造方法および炭化珪素半導体装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人ゆうあい特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010137539
Publication number (International publication number):2012004312
Application date: Jun. 16, 2010
Publication date: Jan. 05, 2012
Summary:
【課題】リサーフ層もしくはEQR構造を構成するための不純物層の形成工程を簡略化することで、製造工程の簡略化を図る。【解決手段】SiCのマイグレーションによってp型リサーフ層21のうち凹部20の下方に位置するn-型ドリフト層2の表層部と、p型リサーフ層21のうちp型ベース領域3の表層部に形成された部分とが接続されるようにする。これにより、凹部20の側壁が急峻であったとしても、斜めイオン注入を行うことなく、p型ベース領域3に対してp型リサーフ層21を接続することができる。したがって、p型リサーフ層21の形成工程を簡略化することが可能となり、製造工程の簡略化を図ることが可能となる。【選択図】図2
Claim (excerpt):
炭化珪素基板(1)の主表面上に第1導電型のドリフト層(2)と第2導電型のベース領域(3)が順に形成されてなる半導体基板を用いて形成され、半導体素子が形成されたセル領域と、該セル領域を囲む外周耐圧構造が形成された外周領域とを有し、前記外周耐圧構造として、前記ベース領域(3)よりも深く、かつ、前記セル領域を囲んで形成された凹部(20)にて構成されたメサ構造と、前記ベース領域(3)の表層部から前記凹部(20)における前記セル領域側となる内周側の側壁を介して前記凹部(20)の下方に位置する前記ドリフト層(2)の表層部に至る第2導電型のリサーフ層(21)が形成されてなる炭化珪素半導体装置の製造方法であって、 前記凹部(20)の形成予定位置が開口するマスク材(30)を配置する工程と、 前記マスク材(30)をマスクとしてエッチングを行うことで前記凹部(20)を形成する工程と、 前記マスク材(30)を除去する工程と、 前記半導体基板に対して基板法線方向から第2導電型不純物をイオン注入することで、前記リサーフ層(21)のうち、前記ベース領域(3)の表層部に形成される部分を形成する工程と、 前記半導体基板に対して基板法線方向から第2導電型不純物をイオン注入することで、前記リサーフ層(21)のうち、前記凹部(20)の下方に位置する前記ドリフト層(2)の表層部に形成される部分を形成する工程と、 炭化珪素のマイグレーションが生じる温度で熱処理を行い、前記凹部(20)の内周側の前記側壁において、前記リサーフ層(21)のうち前記ベース領域(3)の表層部に形成された部分を流動させることで、前記リサーフ層(21)のうち前記凹部(20)の内周側の前記側壁に形成される部分を形成し、該リサーフ層(21)のうち前記ベース領域(3)の表層部に形成された部分と前記凹部(20)の下方に位置する前記ドリフト層(2)の表層部に形成された部分とを接続して当該リサーフ層(21)を完成させる工程と、を含んでいることを特徴とする炭化珪素半導体装置の製造方法。
IPC (5):
H01L 29/06 ,  H01L 29/78 ,  H01L 29/12 ,  H01L 21/336 ,  H01L 29/739
FI (9):
H01L29/78 652P ,  H01L29/78 652T ,  H01L29/78 658B ,  H01L29/78 658G ,  H01L29/78 653A ,  H01L29/78 655F ,  H01L29/78 652E ,  H01L29/06 301G ,  H01L29/06 301M
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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