糖鎖構造解析方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：特許業務法人特許事務所サイクス
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2008157947
Publication number (International publication number)：2010133707
Patent number：5239535
Application date： Jun. 17, 2008
Publication date： Jun. 17, 2010
Claim (excerpt)：

【請求項1】(a)目的糖鎖について特定のm/zのフラグメントイオンが得られるまでCID-MSn測定を行い、(b)該フラグメントイオンについてさらにCID-MS/MS測定を行い、プレカーサーイオン量の総イオン量に対する百分率と、特定のm/zのプロダクトイオン量の総イオン量に対する百分率とをプロットしてグラフを作成し、作成したグラフを直線で近似し、(c)該グラフと、構造既知の参照糖鎖のプレカーサーイオン量の総イオン量に対する百分率と特定のm/zのプロダクトイオン量の総イオン量に対する百分率をプロットして得られたグラフとを比較することを特徴とする糖鎖構造解析方法。

IPC (2)：

G01N 27/62 ( 200 6.01) , H01J 49/42 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01N 27/62 V , H01J 49/42

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

糖鎖構造解析方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-301337 Applicant：三菱化学株式会社
質量分析を用いた物質の同定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-141124 Applicant：株式会社日立ハイテクノロジーズ
質量分析データ解析システム,質量分析データ解析プログラム及び化合物解析システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-035928 Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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