結晶物質のX線回折データのMEM構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法

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Applicant, Patent owner：
Agent (6)：社本一夫 , 増井忠弐 , 小林泰 , 千葉昭男 , 富田博行 , 桜井周矩
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2005184553
Publication number (International publication number)：2007003375
Patent number：4827444
Application date： Jun. 24, 2005
Publication date： Jan. 11, 2007
Claim (excerpt)：

【請求項1】実験的に得られたX線回折データから、最大エントロピー法(MEM)を用いてX線回折により観測されていない回折データを予測し、当該予測された回折データで該実験的に得られたX線回折データを補完することにより得られるX線回折データを用いて、エバルトの方法により静電ポテンシャルを計算することを特徴とする、X線回折データをもとに静電ポテンシャルを求める方法。

IPC (1)：

G01N 23/20 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 23/20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

気体分子の整列保持方法および気体分子保持材料
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-367343 Applicant：京都大学長
物質構造の精密構造解析方法、プログラム、システムおよび物質の製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-376969 Applicant：島根大学長, 日本原子力研究所
測定スペクトルから真のスペクトルを決定する方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2001-503085 Applicant：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ

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Cited by examiner (3)

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