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J-GLOBAL ID：201402204932551418   Reference number：14A1126620

Decay Processes of Si 2s Core Holes in Si(111)-7×7 Revealed by Si Auger Electron Si 2s Photoelectron Coincidence Measurements

Si Auger電子Si 2s光電子コインシデンス測定により明らかになったSi(111)-7×7におけるSi 2s内殻正孔の緩和過程

Author (16)： MASE Kazuhiko (KEK, Ibaraki, JPN) ,  MASE Kazuhiko (Graduate Univ. Advanced Studies, Ibaraki, JPN) ,  HIRAGA Kenta (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  ARAE Sadanori (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  KANEMURA Rui (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  TAKANO Yusaku (Gunma Univ., Maebashi, JPN) ,  YANASE Kotaro (Gunma Univ., Maebashi, JPN) ,  OGASHIWA Yosuke (Gunma Univ., Maebashi, JPN) ,  SHOHATA Nariaki (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN) ,  KANAYAMA Noritsugu (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  KAKIUCHI Takuhiro (Ehime Univ., Matsuyama, JPN) ,  OHNO Shinya (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN) ,  SEKIBA Daiichiro (Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN) ,  OKUDAIRA Koji K. (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  OKUSAWA Makoto (Gunma Univ., Maebashi, JPN) ,  TANAKA Masatoshi (Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
Material： Journal of the Physical Society of Japan  (JPSJ)
Volume： 83  Issue： 9  Page： 094704.1-094704.5  Publication year： Sep. 15, 2014 
JST Material Number： G0509A  ISSN： 0031-9015  CODEN： JUPSA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： photoelectron ,  positive hole ,  *relaxation phenomenon ,  radiationless transition ,  Coster-Kronig transition ,  *Auger electron
Semi thesaurus term： *relaxation process

JST classification (1)： Auger and secondary electron emission  (BM09040O)

Reference (29)：

• Auger Electron Spectroscopy, ed. C. L. Briant and R. P. Messer (Academic Press, San Diego, CA, 1988).
• D. Coster and R. Kronig, Physica 2, 13 (1935).
• H. W. Haak, G. A. Sawatzky, and T. D. Thomas, Phys. Rev. Lett. 41, 1825 (1978).
• G. A. Sawatzky, in Auger Electron Spectroscopy, ed. C. L. Briant and R. P. Messer (Academic Press, San Diego, CA, 1988) Chap. 5, p. 167.
• Correlation Spectroscopy of Surfaces, Thin Films, and Nanostructures, ed. J. Berakdar and J. Kirschner (Wiley-VCH, Weinheim, 2004).

Terms in the title (5)： Si ,  Auger電子 ,  光電子 ,  正孔 ,  緩和過程