依存的質量分析走査をトリガするための方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：山本秀策 , 森下夏樹
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2013546776
Publication number (International publication number)：2014502725
Application date： Dec. 22, 2011
Publication date： Feb. 03, 2014
Summary：

方法およびシステムが、リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするために提供される。分離試料混合物の質量分析走査が、その時間周期の各時間間隔において、質量分析計によって行われる。質量分析計は、分離試料混合物を分離デバイスから受け取る。ある時間間隔において、その時間間隔において受信した質量分析走査と、1つ以上の先行して受信した質量分析走査は、既知の化合物の2つ以上の断片イオン遷移を表す、2つ以上の時変イオン信号を含むと判定される。2つ以上の時変イオン信号の特性が、選択基準に一致する場合、質量分析計は、その時間間隔において、既知の化合物の前駆体イオンのための分離試料混合物の依存的質量分析走査を行うように命令される。

Claim (excerpt)：

リアルタイムで情報依存的質量分析走査をトリガするためのシステムであって、ある時間周期にわたって、1つ以上の化合物を試料混合物から分離する、分離デバイスと、前記時間周期の複数の時間間隔において、分離試料混合物に関して、質量分析走査を行う、質量分析計と、プロセッサであって、前記複数の時間間隔の各時間間隔において、前記質量分析計から、各質量分析走査を受信することと、前記複数の時間間隔のある時間間隔において、前記時間間隔において受信した質量分析走査と、1つ以上の先行して受信した質量分析走査とが、既知の化合物の2つ以上の断片イオン遷移を表す、2つ以上の時変イオン信号を含むことを判定することと、前記2つ以上の時変イオン信号の特性が、選択基準に一致する場合、前記質量分析計に、前記時間間隔において、前記既知の化合物の前駆体イオンのための前記分離試料混合物の依存的質量分析走査を行うように命令することとを行うプロセッサとを含む、システム。

IPC (3)：

G01N 27/62 , H01J 49/40 , H01J 49/42

FI (4)：

G01N27/62 D , G01N27/62 V , H01J49/40 , H01J49/42

F-Term (15)：

2G041CA01 , 2G041EA03 , 2G041EA04 , 2G041EA06 , 2G041GA02 , 2G041GA03 , 2G041GA05 , 2G041GA06 , 2G041GA08 , 2G041GA09 , 2G041GA10 , 2G041GA11 , 2G041HA01 , 2G041HA02 , 5C038JJ06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

質量分析方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-175747 Applicant：マイクロマス・リミテッド
質量分析方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-175716 Applicant：マイクロマス・リミテッド
質量分析方法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-398185 Applicant：株式会社日立製作所

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