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J-GLOBAL ID：201502203460268530   Reference number：15A1286610

赤外速度干渉計による半導体-金属相転移の直接計測

Author (19)： SANO TOMOKAZU (大阪大 大学院工学研究科) ,  OZAKI NORIMASA (大阪大 大学院工学研究科) ,  OZAKI NORIMASA (大阪大 光科セ) ,  YANG Tsung-Han (大阪大 大学院工学研究科) ,  YOKOYAMA NAOYA (大阪大 大学院工学研究科) ,  MIYANISHI KOHEI (大阪大 大学院工学研究科) ,  KIMURA YUSUKE (大阪大 大学院工学研究科) ,  ASAMI YUJIN (大阪大 大学院工学研究科) ,  URANISHI HIROYUKI (大阪大 大学院工学研究科) ,  KONDO YOSHIHIKO (大阪大 大学院工学研究科) ,  KIDA MIKA (大阪大 大学院工学研究科) ,  IKEYA SHOTARO (大阪大 大学院工学研究科) ,  OGAWA TAKEFUMI (大阪大 大学院工学研究科) ,  SATO TOMOYA (大阪大 大学院工学研究科) ,  SANO TAKAYOSHI (大阪大 レーザーエネルギー学研究セ) ,  SAKAWA YOICHI (大阪大 レーザーエネルギー学研究セ) ,  HIROSE AKIO (大阪大 大学院工学研究科) ,  KODAMA RYOSUKE (大阪大 大学院工学研究科) ,  KODAMA RYOSUKE (大阪大 光科セ)
Material： 大阪大学レーザーエネルギー学研究センター共同利用・共同研究成果報告書  (ILE Annual Report of Collaborative Research)
Volume： 2012  Page： 64-65  Publication year： Mar. 2013 
JST Material Number： J0876A  Document type： Article
Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Terms in the title (4)： 赤外 ,  干渉計 ,  金属相 ,  直接計測