縞パタン画像取得装置、縞パタン画像取得方法、三次元位置特定装置、三次元位置特定方法、およびプログラム

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (5)：森隆一郎 , 志賀正武 , 高橋詔男 , 山崎哲男 , 松沼泰史
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015021553
Publication number (International publication number)：2016142727
Application date： Feb. 05, 2015
Publication date： Aug. 08, 2016
Summary：

【課題】対象物が水中に存在する場合にも十分な輝度を確保し、かつ短時間で三次元位置を特定する。【解決手段】三次元位置特定装置1は、対象物Tを撮像する撮像装置20と、撮像装置20が露光している間に、対象物Tに照射されるシート光Lの強度またはシート光Lの単位面積当たりの照射時間を変調させながら走査することで、複数のラインが周期的に現れる縞パタン画像を撮像装置20に撮像させる照射装置10とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

対象物を撮像する撮像装置と、前記撮像装置が露光している間に、前記対象物に照射される光の強度または光の単位面積当たりの照射時間を変調させながら走査することで、複数のラインが周期的に現れる縞パタン画像を前記撮像部に撮像させる照射装置とを備える縞パタン画像取得装置。

IPC (1)：

G01B 11/25

FI (1)：

G01B11/25 H

F-Term (17)：

2F065AA04 , 2F065DD04 , 2F065FF01 , 2F065FF02 , 2F065FF04 , 2F065FF09 , 2F065GG04 , 2F065HH05 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065LL08 , 2F065LL09 , 2F065LL62 , 2F065MM15 , 2F065NN02 , 2F065QQ31 , 2F065SS13

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、及び形状測定プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2012-237859 Applicant：株式会社ニコン
3次元形状測定装置および3次元形状測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-046549 Applicant：パルステック工業株式会社
レンジファインダ装置および撮像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-360822 Applicant：松下電器産業株式会社

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Cited by examiner (4)

形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、及び形状測定プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2012-237859 Applicant：株式会社ニコン
3次元形状測定装置および3次元形状測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-046549 Applicant：パルステック工業株式会社
レンジファインダ装置および撮像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-360822 Applicant：松下電器産業株式会社

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