サンプル検出デバイス用のサンプル捕集装置、及び該サンプル捕集装置を含むサンプル検出デバイス

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：松本征二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015077776
Publication number (International publication number)：2016197077
Application date： Apr. 06, 2015
Publication date： Nov. 24, 2016
Summary：

【課題】サンプル捕集装置を用いて大気中に浮遊する微小サンプルを捕集し、同サンプルを検出する。【解決手段】第1基板2上に形成され、捕捉したサンプルを測定部に移動するためのサンプル移動流路3、及び該サンプル移動流路3に形成されたサンプル捕集孔4、を含み、前記サンプル捕集孔4は前記サンプル移動流路3から第1基板2を貫通する貫通孔であり、前記サンプル移動流路3に充填する導電性溶液が前記サンプル捕集孔4を通じて第1基板2上に液滴を形成することにより周囲のサンプルを捕集する。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

第1基板上に形成され、捕捉したサンプルを測定部に移動するためのサンプル移動流路、及び該サンプル移動流路に形成されたサンプル捕集孔、を含み、前記サンプル捕集孔は前記サンプル移動流路から第1基板を貫通する貫通孔であり、前記サンプル移動流路に充填する導電性溶液が前記サンプル捕集孔を通じて第1基板上に液滴を形成することで周囲のサンプルを捕集できるサンプル検出デバイス用のサンプル捕集装置。

IPC (1)：

G01N 27/447

FI (2)：

G01N27/26 301 , G01N27/26 301C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

ナノ構造表面を有する動的に制御可能な生物学的/化学的検出器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-083221 Applicant：ルーセントテクノロジーズインコーポレーテッド
連続分離検出チップ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-371081 Applicant：日本電信電話株式会社
半導体マイクロ分析チップ及びその製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2013-045393 Applicant：株式会社東芝

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