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J-GLOBAL ID：201802253223806364   Reference number：18A0495581

Pt/Cr₂O₃積層膜における非線形ホール効果とX線MCD測定

Author (7)： SHIRATSUCHI YU (大阪大 大学院) ,  AONO AKIRA (大阪大) ,  MORIYAMA TAKAHIRO (京大 化研) ,  SUZUKI MOTOHIRO (JASRI) ,  NAKAMURA TETSUYA (JASRI) ,  ONO TERUO (京大 化研) ,  NAKATANI RYOICHI (大阪大 大学院)
Material： 日本金属学会講演概要(CD-ROM)  (Collected Abstracts of Spring Meeting of the Japan Institute Metals and Materials (CD-ROM))
Volume： 162nd  Page： ROMBUNNO.257  Publication year： Mar. 05, 2018 
JST Material Number： S0988B  ISSN： 2433-3093  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *Platinum ,  *chromium oxide ,  *multilayer film ,  surface magnetism ,  *Hall effect ,  nonlinearity ,  spin polarization ,  substrate (plate) ,  sapphire ,  magnetron sputtering ,  sputtered deposition ,  photolithography ,  fine patterning ,  electric resistance ,  dependence ,  film thickness ,  absorption edge ,  magnetic circular dichroism ,  DC magnetron sputtering ,  Hall resistance ,  sapphire substrate ,  surface magnetization ,  film thickness dependence ,  ore ,  precious stone
Semi thesaurus term： XMCD

JST classification (1)： Thin films of other inorganic compounds  (BK14060A)

Terms in the title (7)： Pt ,  Cr2O3 ,  積層膜 ,  非線形 ,  ホール効果 ,  X線 ,  MCD