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J-GLOBAL ID：201902274880809031   Reference number：19A0114292

Alternate field evaporation by changing laser pulsing and voltage pulsing dynamically for atom probe analysis

原子プローブ分析のためのレーザパルス化と電圧パルス動力学の変化による交流電界蒸発【JST・京大機械翻訳】

Author (2)： Taniguchi M. (Department of Chemistry and Biology, Kanazawa Institute of Technology, Nonoichi, 921-8501, Japan) ,  Nishikawa O. (Department of Chemistry and Biology, Kanazawa Institute of Technology, Nonoichi, 921-8501, Japan)
Material： Surface and Interface Analysis  (SIA)
Volume： 51  Issue： 1  Page： 105-109  Publication year： 2019 
JST Material Number： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Time-of-flight mass analysis i...

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Thesaurus term： *evaporation ,  switching ,  *laser pulse ,  ion ,  *laser ,  *pulse ,  *field evaporation ,  characterization ,  three dimension ,  *alternating current ,  *voltage ,  atomic-scale ,  *atom probe ,  loading frequency
Semi thesaurus term： 繰返し速度 ,  *パルス電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (5)： Inorganic compounds and elements in general  (CD01010D) ,  Other phsical analysis  (CC03014E) ,  Electron and ion microscopes  (BD02050B) ,  Optical information processing  (BD03060T) ,  Carbon and its compounds  (YB02060D)

Terms in the title (7)： 原子プローブ ,  分析 ,  レーザパルス ,  電圧パルス ,  動力学 ,  交流 ,  電界蒸発