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J-GLOBAL ID:201903008010794416

相変化材料および相変化型メモリ素子

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5): 青木 篤 ,  三橋 真二 ,  南山 知広 ,  伊坪 公一 ,  遠藤 力
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2017556030
Patent number:6598166
Application date: Dec. 09, 2016
Claim (excerpt):
【請求項1】 Cr、Ge及びTeを主成分とし、結晶相における抵抗値がアモルファス相における抵抗値よりも大きく、前記Cr、Ge、Te間には、一般化学式、 CrxGeyTe100-x-y で示される関係が存在し、xは15.0-25.0(at.%)、yは15.0-25.0(at.%)の範囲内で、34.0(at.%)≦x+y≦48.0(at.%)となるように選択されている、相変化材料。
IPC (3):
H01L 21/8239 ( 200 6.01) ,  H01L 27/105 ( 200 6.01) ,  H01L 45/00 ( 200 6.01)
FI (2):
H01L 27/105 449 ,  H01L 45/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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