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J-GLOBAL ID：202104013697485995
Research Project code：09157841 超伝導・磁性薄膜のJc,μ評価装置の開発
超伝導・磁性薄膜のJc,μ評価装置の開発
ClipsOrganization (1)：
山形大学
About 山形大学
Principal investigator：
大嶋 重利
(
About 大嶋 重利
山形大学
, 大学院理工学研究科, 教授 )
About 山形大学
Research overview：
超伝導薄膜や磁性薄膜の臨界電流密度(Jc)や透磁率(μ)を非破壊、非接触で測定できるシステムの開発は重要である。我々は、永久磁石を用いた新しい測定システムを提案し、その測定機器を開発している。試料を2次元的に移動させること或いは、測定素子を2次元的に移動させることにより、Jcやμの2次元マッピングが容易に測定できる。また、操作が容易なこと、スペースを取らないことなどを考慮し、パソコンで操作可能な、卓上型システムを開発する。
Terms in the title (4)：
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磁性薄膜
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Organization with control over the research：
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