地盤試料の探査装置及び探査方法

Inventor： , , , , , , , , , , , ,
Applicant, Patent owner： , , ,
Agent (1)：坂本寛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2020192423
Publication number (International publication number)：2022081096
Application date： Nov. 19, 2020
Publication date： May. 31, 2022
Summary：

【課題】コアの乱れを抑えることができる地盤試料の探査装置及び探査方法を提供する。【解決手段】地盤試料の探査装置1Aは、コアチューブ200を地盤Gに貫入させるための貫入装置20と、地盤の、貫入されたコアチューブの周囲を環状に、コアチューブの貫入方向に掘進して地盤の探査用環状孔Hを掘削する掘削装置30と、掘削された探査用環状孔の内部に配置されて、コアチューブの内部の地盤試料を探査可能な探査ユニット40と、を備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

コアチューブを地盤に貫入させるための貫入装置と、前記地盤の、貫入された前記コアチューブの周囲を環状に、前記コアチューブの貫入方向に掘進して前記地盤の探査用環状孔を掘削する掘削装置と、掘削された前記探査用環状孔の内部に配置されて、前記コアチューブの内部の地盤試料を探査可能な探査ユニットと、を備える地盤試料の探査装置。

IPC (4)：

E02D 1/04 , G01N 23/02 , E21B 10/02 , E21B 49/02

FI (4)：

E02D1/04 , G01N23/02 , E21B10/02 , E21B49/02

F-Term (10)：

2D043AB01 , 2D043BA07 , 2D043BA10 , 2D043BB09 , 2D129GA13 , 2G001AA01 , 2G001BA11 , 2G001CA01 , 2G001LA03 , 2G001SA29

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

地盤試料のスキャン方法、地盤試料の供試体の生産方法、地盤試料の土質試験方法及び地盤試料のスキャン装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2017-089168 Applicant：国立研究開発法人海上・港湾・航空技術研究所, 基礎地盤コンサルタンツ株式会社, つくばテクノロジー株式会社

Cited by examiner (5)

地盤試料のスキャン方法、地盤試料の供試体の生産方法、地盤試料の土質試験方法及び地盤試料のスキャン装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2017-089168 Applicant：国立研究開発法人海上・港湾・航空技術研究所, 基礎地盤コンサルタンツ株式会社, つくばテクノロジー株式会社
試料採取方法およびその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-325181 Applicant：関西電力株式会社
土壌中油分の測定法および装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-257560 Applicant：有限会社応用量子計測研究所, 鹿島建設株式会社, 日本原子力研究所, 株式会社日本特殊計測器製作所

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