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J-GLOBAL ID:202203013845996221

地盤試料の探査装置及び探査方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 坂本 寛
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2020192423
Publication number (International publication number):2022081096
Application date: Nov. 19, 2020
Publication date: May. 31, 2022
Summary:
【課題】コアの乱れを抑えることができる地盤試料の探査装置及び探査方法を提供する。 【解決手段】地盤試料の探査装置1Aは、コアチューブ200を地盤Gに貫入させるための貫入装置20と、地盤の、貫入されたコアチューブの周囲を環状に、コアチューブの貫入方向に掘進して地盤の探査用環状孔Hを掘削する掘削装置30と、掘削された探査用環状孔の内部に配置されて、コアチューブの内部の地盤試料を探査可能な探査ユニット40と、を備える。 【選択図】図1
Claim (excerpt):
コアチューブを地盤に貫入させるための貫入装置と、 前記地盤の、貫入された前記コアチューブの周囲を環状に、前記コアチューブの貫入方向に掘進して前記地盤の探査用環状孔を掘削する掘削装置と、 掘削された前記探査用環状孔の内部に配置されて、前記コアチューブの内部の地盤試料を探査可能な探査ユニットと、を備える 地盤試料の探査装置。
IPC (4):
E02D 1/04 ,  G01N 23/02 ,  E21B 10/02 ,  E21B 49/02
FI (4):
E02D1/04 ,  G01N23/02 ,  E21B10/02 ,  E21B49/02
F-Term (10):
2D043AB01 ,  2D043BA07 ,  2D043BA10 ,  2D043BB09 ,  2D129GA13 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001LA03 ,  2G001SA29
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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