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J-GLOBAL ID:202403017649294782
測距装置及び測距方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
中原 正樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2023117423
Publication number (International publication number):2024013232
Application date: Jul. 19, 2023
Publication date: Jan. 31, 2024
Summary:
【課題】従来よりもノイズに頑健な測距装置等を提供する。
【解決手段】測距装置100は、TOF(Time Of Flight)方式により対象物までの距離を測定する測距装置であって、光源部40と、光源部40が出射した光が対象物200で反射された反射光を受光する受光素子と、受光素子が反射光を受光することにより発生した電荷が振り分けられる第1タップ、第2タップ及び第3タップとを有する受光部60と、光源部40の発光タイミング、並びに、第1タップ、第2タップ及び第3タップに対応する露光タイミングのための制御信号を、基本信号に擬似乱数を用いた変調を加えることで生成する信号生成部20とを備える。
【選択図】図2
Claim (excerpt):
TOF(Time Of Flight)方式により対象物までの距離を測定する測距装置であって、
光源部と、
前記光源部が出射した光が前記対象物で反射された反射光を受光する受光素子と、前記受光素子が前記反射光を受光することにより発生した電荷が振り分けられる第1タップ、第2タップ及び第3タップとを有する受光部と、
前記光源部の発光タイミング、並びに、前記第1タップ、前記第2タップ及び前記第3タップに対応する露光タイミングのための制御信号を、基本信号に擬似乱数を用いた変調を加えることで生成する信号生成部とを備える
測距装置。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (7):
5J084AA05
, 5J084AA13
, 5J084AD01
, 5J084BA36
, 5J084BA40
, 5J084CA05
, 5J084EA02
Patent cited by the Patent:
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