Pat
J-GLOBAL ID:201403073374415320
距離情報を提供する方法及びタイム・オブ・フライトカメラ
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
中島 淳
, 加藤 和詳
, 西元 勝一
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2014519562
Publication number (International publication number):2014522979
Application date: Jul. 12, 2012
Publication date: Sep. 08, 2014
Summary:
本発明はタイム・オブ・フライトカメラ(1)を用いてシーンの距離情報を提供する方法に関し、シーンに向けて変調された光パルスを放射するステップと、そのシーンからの変調光パルスの反射を受信するステップと、受信した変調光パルスの反射のタイム・オブ・フライト情報を評価するステップと、受信した反射のタイム・オブ・フライト情報から距離情報を導き出すステップとを含む。ここで、スペクトラム拡散信号が光パルスの変調基準周波数に印加され、タイム・オブ・フライト情報は光パルスの変調基準周波数に印加されたスペクトラム拡散信号を考慮することによって評価される。本発明は更に、シーンからの距離情報を提供するタイム・オブ・フライトカメラ(1)にも関し、タイム・オブ・フライトカメラは上記の方法を遂行する。
Claim (excerpt):
タイム・オブ・フライトセンサ又はタイム・オブ・フライトカメラ(1)を用いてシーンの距離情報を提供する方法であって、
ある摂動周波数と摂動周期をもつ周期的摂動によって拡散された基準周波数を有するクロックタイミングに基づく変調信号に従って、前記シーンに向けて周期的光信号を放射することと、
前記シーンからの前記周期的光信号の反射を受信することと、
前記周期的光信号の前記受信した反射に対し、複数の測定継続時間からなるセットに亘ってタイム・オブ・フライト情報を前記変調信号に従って評価することと、
前記受信した反射に対する前記タイム・オブ・フライト情報から距離情報を導き出すことと、
を含み、
前記セットの中の各測定継続時間は、前記摂動周期の整数倍又は半整数倍であり、かつ前記測定継続時間のセットの全体に亘って前記基準周波数の平均が一定に保たれる、方法。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (22):
5J084AA04
, 5J084AA05
, 5J084AC08
, 5J084AD02
, 5J084BA02
, 5J084BA04
, 5J084BA34
, 5J084BA40
, 5J084BB02
, 5J084CA04
, 5J084CA08
, 5J084CA10
, 5J084CA26
, 5J084CA42
, 5J084CA44
, 5J084CA65
, 5J084CA67
, 5J084DA01
, 5J084DA08
, 5J084EA01
, 5J084EA04
, 5J084FA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (14)
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3D画像化方法及び装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2008-529615
Applicant:アイイーイーインターナショナルエレクトロニクスアンドエンジニアリングエス.エイ.
-
トンネル内壁検査方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-191848
Applicant:株式会社日立エンジニアリングサービス
-
バックグランド放射光の抑制に有利なTOF領域
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2011-507941
Applicant:フリーイェ・ユニヴェルシテイト・ブリュッセル
-
レーダ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-139849
Applicant:株式会社日立製作所
-
特開昭63-083686
-
半導体集積回路
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-297605
Applicant:ザインエレクトロニクス株式会社
-
距離計および距離計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-323183
Applicant:株式会社山武
-
半導体集積回路
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-253770
Applicant:株式会社ルネサステクノロジ
-
検出及び測距方法及びシステム
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2010-538303
Applicant:レッダーテックインコーポレイテッド
-
特許第7742556号
-
画像処理装置、画像読取装置及び画像形成装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-340499
Applicant:シャープ株式会社
-
3次元形状計測方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-094199
Applicant:富士ゼロックス株式会社
-
距離測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-225255
Applicant:株式会社ソキア
-
車間距離検知装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-340926
Applicant:三菱電機株式会社
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