Choi Suji について
Korea Research Institute of Standards and Science, 267 Gajeong-Ro, Yuseong-Gu, Daejeon 34113, Republic of Korea. young.h.kim@kriss.re.kr について
Lee Jong Hoon について
Pin Min Wook について
Jang Dong Won について
Hong Seong-Gu について
Cho Boklae について
Lee Sang Jun について
Jeong Jong Seok について
Yi Seong-Hoon について
Kim Young Heon について
RSC Advances (Web) について
切欠き について
引張荷重 について
電子ビーム について
応力集中 について
脆性破壊 について
機械的性質 について
引張試験 について
ヒ化インジウム について
透過型電子顕微鏡 について
弾性変形 について
ナノワイヤ について
一軸 について
電子照射 について
曲率半径 について
性質 について
破壊挙動 について
半導体薄膜 について
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電子ビーム について
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ノッチ について
InAs について
ナノワイヤ について
破壊挙動 について
研究 について