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J-GLOBAL ID：200902277942094900   整理番号：08A0745555

オープン故障診断の性能向上について

Improving the Diagnostic Quality of Open Faults

著者 (8件)： 山崎浩二 (明治大 情報コミュニケーション) ,  堤利幸 (明治大 理工) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  相京隆 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  四柳浩之 (徳島大 大学院先端技術科学教育部) ,  橋爪正樹 (徳島大 大学院先端技術科学教育部) ,  高松雄三 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 108  号： 99(DC2008 11-18)  ページ： 29-34  発行年： 2008年06月13日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 回路の微細化や銅配線の導入により,配線やビアの断線の発生頻度が高まっている。そのため,オープン故障診断法の開発の重要性が増してきている。本稿では,断線した信号線の論理値が隣接信号線の論理値のしきい値関数として表されるオープン故障の診断法を提案する。本手法では,このしきい値関数を利用して,故障信号線を絞り込み,さらに,故障信号線上の断線位置の推定を行う。計算機実験の結果は,多くの場合,高速に被疑故障を1箇所に特定できること,および故障信号線上の断線位置を故障信号線の長さの25%程度まで絞り込むことができることを示している。(著者抄録)

シソーラス用語： 超LSI ,  回路試験 ,  *電気故障 ,  *故障診断 ,  切断 ,  関数 ,  *断線
準シソーラス用語： *オープン故障 ,  閾値関数

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 故障診断 ,  性能向上