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J-GLOBAL ID：201002290714430344   整理番号：10A1129677

故障励起関数を利用したオープン故障の診断法

著者 (8件)： 山崎浩二 (明治大 情報コミュニケーション) ,  堤利幸 (明治大 理工) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  相京隆 (半導体理工学研究セ) ,  四柳浩之 (徳島大 大学院先端技術科学教育部) ,  橋爪正樹 (徳島大 大学院先端技術科学教育部) ,  高松雄三
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D  (IEICE Transactions on Information and Systems (Japanese Edition))
巻： J93-D  号： 11  ページ： 2416-2425  発行年： 2010年11月01日 
JST資料番号： S0757C  ISSN： 1880-4535  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 回路の微細化や銅配線の導入により,配線やビアの断線の発生頻度が高まっている。そのため,効率的なオープン故障の診断法の開発の重要性が増してきている。本論文では,完全に断線した信号線の論理値が,隣接信号線の論理値のしきい値関数として表される故障励起関数を提案する。次に,この故障励起関数を利用した単一オープン故障の診断法を提案する。この診断法では,故障励起関数を利用して故障信号線を絞り込み,更に故障信号線上の断線位置の推定を行う。計算機実験による性能評価の結果は,ほとんどの故障回路に対して高速に被疑故障信号線を1箇所に特定できること,及び故障信号線上の断線位置を故障信号線の長さの25%程度まで絞り込むことができることを示している。(著者抄録)

シソーラス用語： *切断 ,  *電気故障 ,  *故障診断 ,  *励起関数 ,  閾値 ,  閾値論理 ,  超LSI ,  モデル ,  故障解析 ,  故障モデル ,  *断線
準シソーラス用語： *オープン故障

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (17件)：

• S. M. Reddy, I. Pomeranz, H. Tang, S. Kajihara, and K. Kinoshita,“On testing interconnect open defects in combinational logic circuits with stems of large fanout,” Proc. Int. Test Conf., pp. 83-87, 2002.
• Y. Sato, I. Yamazaki, H. Yamanaka, T. Ikeda, and M. Takakura,“A persistent diagnostic technique of unstable defects,” Proc. Int. Test Conf., pp. 241-249, 2002.
• S. Venkataraman and S. B. Drummonds,“A technique for logic fault diagnosis of interconnect open defects,” Proc. VLSI Test Symp., pp. 313-318, 2000.
• S. Huang,“Diagnosis of byzantine open-segment faults,” Proc. Asian Test Symp., pp. 248-253, 2002.
• Y. Sato, H. Takahashi, Y. Higami, and Y. Takamatsu,“Failure analysis of open faults by using detecting/un-detecting information on tests,” Proc. Asian Test Symp., pp. 222-227, 2004.

タイトルに関連する用語 (4件)： 故障 ,  励起関数 ,  オープン故障 ,  診断法