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J-GLOBAL ID：201002295950892059   整理番号：10A0917025

熱陰極高周波電子銃におけるBack-bombardment Effectに起因するバンチ位相シフトとその補償

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著者 (7件)： 全炳俊 (分子研 UVSOR) ,  紀井俊輝 (京大) ,  BAKR M.A. (京大) ,  金城良太 (京大) ,  CHOI Y.C. (京大) ,  増田開 (京大) ,  大垣英明 (京大)
資料名： 日本原子力学会秋の大会予稿集(CD-ROM)  (日本原子力学会秋の大会(CD-ROM))
巻： 2010  ページ： ROMBUNNO.I47  発行年： 2010年08月27日 
JST資料番号： S0818B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 熱陰極高周波電子銃において問題となるBack-Bombardment現象により引き起こされるビーム負荷のマクロパルス中での変化はビームエネルギーの低下のみならず,電子バンチの位相変化も引き起こす。本研究では,バンチ位相をピックアップ電極と位相検出器を用いて計測すると共に,位相変化の補償を行った。(著者抄録)

シソーラス用語： *電子銃 ,  熱電子放出 ,  *電子ビーム ,  *ビームバンチング ,  位相変動 ,  負荷 ,  カソード ,  電子衝突 ,  ビーム電流
準シソーラス用語： RF電子銃 ,  ビーム負荷

分類 (1件)： 電子源,イオン源  (BD02020U)

タイトルに関連する用語 (5件)： 熱陰極 ,  電子銃 ,  起因 ,  位相シフト ,  補償