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J-GLOBAL ID：201702275305393384   整理番号：17A1472652

大出力レーザーの産業利用と新たな量子ビーム計測技術への展望

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著者 (15件)： 栗田隆史 (浜ホト) ,  弘中陽一郎 (大阪大) ,  三浦永祐 (産業技術総合研) ,  渡利威士 (浜ホト) ,  黒田隆之助 (産業技術総合研) ,  重森啓介 (大阪大) ,  宮西宏併 (大阪大) ,  松岡健之 (大阪大) ,  尾崎典雅 (大阪大) ,  兒玉了祐 (大阪大) ,  関根尊史 (浜ホト) ,  水田好雄 (浜ホト) ,  壁谷悠希 (浜ホト) ,  加藤義則 (浜ホト) ,  栗田典夫 (浜ホト)
資料名： 放射線化学討論会講演要旨集  (Program and Abstract. Annual Meetings of the Japanese Society of Radiation Chemistry)
巻： 60th  ページ： 85-90  発行年： 2017年09月20日 
JST資料番号： L0690A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *高出力レーザ ,  *利用 ,  *ビーム ,  技術 ,  ピーニング ,  残留応力 ,  レーザ励起 ,  YAGレーザ ,  ステンレス鋼 ,  X線回折 ,  パルスレーザ ,  *量子ビーム ,  *計装技術 ,  半導体レーザ励起 ,  Yb:YAGレーザ ,  レーザピーニング ,  残留圧縮応力
準シソーラス用語： *産業利用 ,  圧縮残留応力

分類 (2件)： レーザ一般  (BD04030T) ,  半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (5件)： 大出力レーザー ,  産業利用 ,  量子ビーム ,  計測 ,  展望