特許
J-GLOBAL ID：201803012061241071

光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法

発明者：
菅野 敦史

菅野 敦史 について

, 
川西 哲也

川西 哲也 について


出願人/特許権者：
国立研究開発法人情報通信研究機構

国立研究開発法人情報通信研究機構 について


代理人 (2件)： 廣瀬 隆行 ,  関 大祐
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-004664
公開番号（公開出願番号）：特開2015-132565
特許番号：特許第6281864号
出願日： 2014年01月14日
公開日（公表日）： 2015年07月23日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 光ファイバの特性の測定装置であって, 所定の光周波数の光信号を出力する光源(1)と, 変調信号を出力する信号源(2)と, 前記信号源(2)からの前記変調信号によって,前記光源(1)からの前記光信号対して両側波帯・搬送波抑圧変調(DSB-SC)の光変調を施した変調光を出力する光変調器(3)と, 前記光変調器(3)からの前記変調光を2つに分波し,一方の変調光を測定対象たる光ファイバ(5)に入射する第1の光カプラ(4)と, 前記光ファイバ(5)の端にて反射した又は前記光ファイバ(5)を透過した前記一方の変調光と,前記第1の光カプラ(4)によって分波された他方の変調光を合波する第2の光カプラ(6)と, 前記第2の光カプラ(6)によって合波された光信号の周波数を検出する検波器(7)と, 前記検波器(7)によって検出された前記光信号の周波数に基づいて,前記光ファイバ(5)の特性としての群速度分散値(D)を測定する演算手段(8)と,を含み, 前記信号源(2)は,前記変調信号の周波数を掃引することで,前記光変調器(3)から出力される前記変調光の上部側波帯及び下部側波帯の周波数を掃引し, 前記演算手段(8)は,前記検波器(7)によって検出した前記光信号の上部側波帯成分由来のピーク周波数(fdet+)と前記光信号の下部側波帯成分由来のピーク周波数(fdet-)との周波数差(Δfdet)に基づいて,前記光ファイバ(5)の特性としての群速度分散値(D)を測定する 測定装置。
IPC (1件)：
G01M 11/02 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01M 11/02 K
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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