特許
J-GLOBAL ID:201803018581643847

X線撮像装置及びX線撮像方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 前井 宏之
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-180597
公開番号(公開出願番号):特開2015-047306
特許番号:特許第6232603号
出願日: 2013年08月30日
公開日(公表日): 2015年03月16日
請求項(抜粋):
【請求項1】 電子源と、 X線を発生するX線源と、 前記X線が照射される回折格子と、 前記X線に基づく前記回折格子の自己像を直接検出する検出手段と を備え、 前記X線源は、 基板と、 前記基板に形成され、前記X線を発生する周期的に配列された複数の金属と を含み、 前記電子源は、前記周期的に配列された複数の金属に電子線を照射し、 前記X線は、前記金属から前記電子線の進行方向に放射され、 前記X線源は、前記電子源と前記回折格子との間に配置され、 前記回折格子は、前記X線源と前記検出手段との間に配置され、 前記回折格子の自己像の周期が前記検出手段の1画素の数倍以上となるように、第1距離及び第2距離が設定され、 前記第1距離は、前記回折格子と前記X線源との間の距離を示し、 前記第2距離は、前記回折格子と前記検出手段との間の距離を示し、 前記回折格子と前記検出手段との間に回折格子を有しない、X線撮像装置。
IPC (3件):
A61B 6/00 ( 200 6.01) ,  G01N 23/04 ( 200 6.01) ,  H05G 1/00 ( 200 6.01)
FI (4件):
A61B 6/00 330 Z ,  A61B 6/00 300 B ,  G01N 23/04 ,  H05G 1/00 C
引用特許:
審査官引用 (2件)
引用文献:
審査官引用 (1件)
  • Grating-Based X-ray Phase Imageing Using Multiline X-ray Source (Abstract)

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