特許

J-GLOBAL ID：201803018581643847

X線撮像装置及びX線撮像方法

発明者： 志村 考功 ,  渡部 平司 ,  細井 卓治 ,  森本 直樹 ,  藤野 翔
出願人/特許権者： 国立大学法人大阪大学
代理人 (1件)： 前井 宏之
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-180597
公開番号（公開出願番号）：特開2015-047306
特許番号：特許第6232603号
出願日： 2013年08月30日
公開日（公表日）： 2015年03月16日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 電子源と、 X線を発生するX線源と、 前記X線が照射される回折格子と、 前記X線に基づく前記回折格子の自己像を直接検出する検出手段と を備え、 前記X線源は、 基板と、 前記基板に形成され、前記X線を発生する周期的に配列された複数の金属と を含み、 前記電子源は、前記周期的に配列された複数の金属に電子線を照射し、 前記X線は、前記金属から前記電子線の進行方向に放射され、 前記X線源は、前記電子源と前記回折格子との間に配置され、 前記回折格子は、前記X線源と前記検出手段との間に配置され、 前記回折格子の自己像の周期が前記検出手段の1画素の数倍以上となるように、第1距離及び第2距離が設定され、 前記第1距離は、前記回折格子と前記X線源との間の距離を示し、 前記第2距離は、前記回折格子と前記検出手段との間の距離を示し、 前記回折格子と前記検出手段との間に回折格子を有しない、X線撮像装置。

IPC (3件)：

A61B 6/00 ( 200 6.01) ,  G01N 23/04 ( 200 6.01) ,  H05G 1/00 ( 200 6.01)

FI (4件)：

A61B 6/00 330 Z ,  A61B 6/00 300 B ,  G01N 23/04 ,  H05G 1/00 C

引用特許：

審査官引用 (2件)

• X線撮像装置、及び、これに用いるX線源
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-038181   出願人：国立大学法人東京大学
• 放射線位相画像撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-084385   出願人：富士フイルム株式会社

引用文献：

審査官引用 (1件)

• Grating-Based X-ray Phase Imageing Using Multiline X-ray Source (Abstract)