特許
J-GLOBAL ID：201403095432859513
表面に元素薄膜が存在する微小体の識別法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (4件)：
小林 浩
, 片山 英二
, 藤田 尚
, 鈴木 康仁
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-219481
公開番号（公開出願番号）：特開2010-054336
特許番号：特許第5391383号
出願日： 2008年08月28日
公開日（公表日）： 2010年03月11日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 1種または2種以上の金属、遷移金属、または半導体を含む層状構造で被覆された1種または2種以上の微小体を1種または2種以上の標的分子の標識として使用する方法であって、
前記微小体を前記標的分子に固定する工程、
前記微小体に電子線を照射する工程、
前記層状構造からの反射電子量を測定する工程、および
前記反射電子量により前記微小体を識別する工程、
を含み、
前記層状構造が、1個または2個以上の基準層と、1個または2個以上の可変層とを備え、
前記標的分子を固定化可能な元素から構成された前記基準層の1個が前記層状構造の最も外側表面に形成され、
前記可変層は他の微小体と区別できる異なる元素または異なる元素の組合せから構成されている、
方法。
IPC (3件)：
G01N 23/225 ( 200 6.01)
, G01N 23/203 ( 200 6.01)
, G01N 33/543 ( 200 6.01)
G01N 23/225
, G01N 23/203
, G01N 33/543 541 Z
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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引用文献：
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