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J-GLOBAL ID：201102273763414651   整理番号：11A0796874

NMRによる液体有機半導体の劣化解析

著者 (10件)： 山本順一 (京大 化研) ,  福島達也 (京大 化研) ,  福地将志 (京大 化研) ,  平田修造 (九大 OPERA) ,  HEO Hyo Jung (九大 OPERA) ,  平田修 (九大 OPERA) ,  平田修 (日産化学工業) ,  柴野佑紀 (日産化学工業) ,  安達千波矢 (九大 OPERA) ,  梶弘典 (京大 化研)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 58th  ページ： ROMBUNNO.26P-BD-2  発行年： 2011年03月09日 
JST資料番号： Y0054B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： NMR【磁気共鳴】 ,  液体半導体 ,  *発光ダイオード ,  *故障診断 ,  二次元NMR ,  *有機EL素子 ,  *劣化診断 ,  DOSY

分類 (1件)： 発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (3件)： NMR ,  有機半導体 ,  解析