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J-GLOBAL ID：201702283232286012   整理番号：17A1076066

ラウエ型湾曲結晶分光器による高感度XAFS

Approach to Highly Sensitive XAFS by Means of Bent Crystal Laue Analyzers

著者 (14件)： 脇坂祐輝 (北海道大学触媒科学研究所) ,  岩崎裕也 (北海道大学触媒科学研究所) ,  上原広充 (北海道大学触媒科学研究所) ,  向井慎吾 (北海道大学触媒科学研究所) ,  城戸大貴 (北海道大学触媒科学研究所) ,  高草木達 (北海道大学触媒科学研究所) ,  上村洋平 (自然科学研究機構分子科学研究所) ,  和田敬広 (東京医科歯科大学大学院医歯学総合研究科) ,  YUAN Qiuyi (北海道大学触媒科学研究所) ,  関澤央輝 (電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター) ,  宇留賀朋哉 (電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター) ,  宇留賀朋哉 (高輝度光科学研究センター) ,  岩澤康裕 (電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター) ,  朝倉清高 (北海道大学触媒科学研究所)
資料名： 表面科学  (JSSSJ)
巻： 38  号： 8  ページ： 378-383(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： F0940B  ISSN： 0388-5321  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *スペクトロメータ ,  *XAFS ,  レンズ ,  高感度 ,  依存性 ,  位置依存性 ,  結晶スペクトロメータ ,  Laueレンズ
準シソーラス用語： *ラウエ型湾曲結晶分光器 ,  結晶分光器 ,  ラウエレンズ

著者キーワード (6件)： high-sensitive XAFS for ultra-dilute system ,  bent crystal Laue analyzer ,  interface ,  high-sensitive XAFS for ultra-dilute system ,  bent crystal Laue analyzer ,  interface

分類 (1件)： 分光法と分光計一般  (BD07041Q)

引用文献 (9件)：

• 1) Y. Iwasawa, K. Asakura and M. Tada (Eds.): “XAFS Techniques for Catalysts, Nanomaterials, and Surfaces” (Springer, 2016).
• 2) K. Asakura: “Catalysis”, ed. by J.J. Spivey and M. Gupta (RSC publishing, Cambridge 2012) Vol. 24, p. 281.
• 3) H. Uehara, Y. Uemura, T. Ogawa, K. Kono, R. Ueno, Y. Niwa, H. Nitani, H. Abe, S. Takakusagi, M. Nomura, Y. Iwasawa and K. Asakura: Phys. Chem. Chem. Phys.: PCCP 16, 13748 (2014).
• 4) Z. Zhong, L.D. Chapman, B.A. Bunker, G.B. Bunker, R. Fischetti and C.U. Segre: J. Synchrotron Rad. 6, 212 (1999).
• 5) E. Erola, V. Etelaniemi, P. Suortti, P. Pattison and W. Thomlinson: J. Appl. Crystallogr. 23, 35 (1990).

タイトルに関連する用語 (4件)： 湾曲 ,  結晶分光器 ,  高感度 ,  XAFS