特許
J-GLOBAL ID:201803011418884590

異常診断装置、異常診断方法及び異常診断プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人 志賀国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-143497
公開番号(公開出願番号):特開2018-013980
出願日: 2016年07月21日
公開日(公表日): 2018年01月25日
要約:
【課題】設備全体の異常を診断することができる異常診断装置、異常診断方法及び異常診断プログラムを提供することである。【解決手段】実施形態の異常診断装置は、性能指標算出部と、波形異常診断部とを持つ。性能指標算出部は、設備において相関のある複数の物理量を計測するための複数のセンサによる複数の種類の時系列データに含まれた複数の過渡応答波形に基づいて、設備の動特性に関する性能指標を算出する。波形異常診断部は、複数の種類の時系列データに含まれた複数の過渡応答波形の異常の有無を性能指標に基づいて時系列データごとに診断する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
設備において相関のある複数の物理量を計測するための複数のセンサによる複数の種類の時系列データに含まれた複数の過渡応答波形に基づいて、前記設備の動特性に関する性能指標を算出する性能指標算出部と、 前記複数の種類の時系列データに含まれた複数の前記過渡応答波形の異常の有無を前記性能指標に基づいて前記時系列データごとに診断する波形異常診断部と を備える異常診断装置。
IPC (1件):
G05B 23/02
FI (1件):
G05B23/02 302S
Fターム (13件):
3C223AA17 ,  3C223AA21 ,  3C223BA01 ,  3C223BB02 ,  3C223BB12 ,  3C223CC01 ,  3C223DD01 ,  3C223EB01 ,  3C223EB02 ,  3C223FF13 ,  3C223FF33 ,  3C223GG01 ,  3C223HH03
引用特許:
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (12件)
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